Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовые микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

Первые российские стандарты в нанотехнологии [Текст] / В. П. Гавриленко [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 454-462. : рис. - Библиогр.: c. 462 (13 назв. )

УДК

^a621.3.049:537.533:620.187:539.25

ББК 31.2
Рубрики: Энергетика
Электротехника в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- растровые электронные микроскопы -- Первичный эталон длины -- нанотехнология -- нанометрология -- стандартизация -- нанометровый диапазон -- единица длины
Аннотация: Рассмотрены вопросы обеспечения единства измерений в нанотехнологии.

Доп.точки доступа:
Гавриленко, В. П.; Лесновский, Е. Н.; Новиков, Ю. А.; Раков, А. В.; Тодуа, П. А.; Филиппов, М. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Новиков, Ю. А.
Калибровка атомно-силовых микроскопов [Текст] / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 473-484. : рис. - Библиогр.: c. 483-484 (28 назв. )

УДК

^a537.533:620187:539.25

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- калибровка АСМ -- растровые электронные микроскопы -- параметры АСМ -- экспериментальные исследования -- геометрические модели -- сканирование -- геометрические свойства -- поверхности
Аннотация: Приведены методы калибровки атомно-силовых микроскопов (АСМ) с использованием сигнала АСМ и его первой производной.

Доп.точки доступа:
Раков, А. В.; Тодуа, П. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Догадин, С. Е.
Методика анализа панорамных изображений атомно-силовой микроскопии [Текст] / С. Е. Догадин, Д. В. Хлопов // Материаловедение. - 2011. - N 10. - С. 28-34.

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- микроскопы -- панорамные изображения -- фильтрация искажений -- сегментация изображений
Аннотация: Предложена методика количественного анализа панорамных изображений, полученных с помощью атомно-силового микроскопа. Методика включает: фильтрацию искажений, возникающих в результате временной потери контакта между зондом и образцом; объединение данных, полученных на перекрывающихся участках сканирования поверхности исследуемого образца; сегментацию полученного в результате такого объединения панорамного изображения.

Доп.точки доступа:
Хлопов, Д. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Карпинский, Д. Н.
Оценивание влияния теплового шума в малоамплитудных режимах атомно-силового микроскопа [Текст] / Д. Н. Карпинский, А. Н. Шишкин // Материаловедение. - 2012. - N 1. - С. 17-21.

УДК

^a620.1/.2

ББК 30.3
Рубрики: Техника
Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- тепловые флуктуации -- твердость микроконсоли -- тепловые шумы -- малоамплитудные режимы -- атомно-силовые микроскопы
Аннотация: Выполнен расчет погрешностей, вносимых тепловым шумом в колебательный режим микроконсоли при бесконтактном и контактном динамических режимах атомно-силового микроскопа. Уточнены условия работы атомно-силового микроскопа, когда единственной возмущающей силой является тепловой шум.

Доп.точки доступа:
Шишкин, А. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Карпинский, Д. Н.
Расчет динамических свойств микроконсоли атомно-силового микроскопа под действием теплового шума [Текст] / Д. Н. Карпинский, А. Н. Шишкин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 10. - С. 36-40. - Библиогр.: с. 40 (14 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a53.07

ББК 22.3с
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
расчет динамических свойств -- микроконсоли -- атомно-силовые микроскопы -- тепловой шум -- малоамплитудная микроскопия -- динамическая атомно-силовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- силы Ван-дер-Ваальса -- Ван-дер-Ваальса силы -- коэффициенты жесткости -- контактный режим
Аннотация: Описан расчет характеристик колебаний, вносимых тепловым шумом в малоамплитудный динамический режим микроконсоли атомно-силового микроскопа. Уточнены условия работы этого микроскопа, когда единственной возмущающей силой является тепловой шум.

Доп.точки доступа:
Шишкин, А. Н.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Хамматова, В. В.
Проведение исследований микроструктуры образцов наномодифицированных текстильных материалов для специальной одежды методами микроскопии [Текст] / В. В. Хамматова, К. Э. Разумеев // Известия вузов. Технология текстильной промышленности. - 2016. - № 5 (365). - С. 84-89. - Библиогр.: с. 89 (9 назв. ) . - ISSN 0021-3497

УДК

^a677

ББК 37.23
Рубрики: Легкая промышленность
Текстильное производство
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- исследование микроструктуры -- конфокальные лазерные микроскопы -- материалы для спецодежды -- методы исследований -- микроструктура материалов -- наномодифицированные материалы -- наноструктура материалов -- сканирующая электронная микроскопия -- сканирующие микроскопы -- текстильные материалы
Аннотация: Рассмотрены вопросы, связанные с проведением исследований микроструктуры контрольных и наномодифицированных натуральных текстильных материалов с использованием методов сканирующей электронной микроскопии на конфокальном лазерном сканирующем микроскопе Olympus OLS LEXT 4000 и атомно-силовом микроскопе NTEGRA Prima (NT-MDT, Россия), которые обеспечивают получение изображений поверхности текстильного материала. Исследованы морфологические особенности микроскопических объектов на примере нано- и микроструктуры контрольных и наномодифицированных образцов с содержанием натуральных хлопковых волокон, а также расположение наночастиц серебра на их поверхности.

Доп.точки доступа:
Разумеев, К. Э.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 22.07.2024
Число запросов	54665
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)