Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская фотоэлектронная дифракция<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Разинкин А. С., Шалаева Е. В., Кузнецов М. В.
Заглавие : Поверхностные квазиупорядоченные наноструктуры NbO[x]Nb (110) : исследование методами поверхностного анализа
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 10. - С. 1395-1399: рис. (Шифр ranf/2008/72/10)
Примечания : Библиогр.: c. 1399 (10 назв. )
УДК : 669.295:539.211:538.915
ББК : 34.1
Предметные рубрики: Технология металлов
Общая технология металлов
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): методы поверхностного анализа--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная дифракция--поверхностные структуры--ниобий--сплавы--фотоэлектронные спектры--кислород
Аннотация: Методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и дифракции (РФЭС и РФД) исследованы кислород-индуцированные поверхностные структуры на грани Nb (110).
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Разинкин А. С., Огородников И. И., Титов А. Н., Кузнецов М. В.
Заглавие : Структурные дефекты на поверхности 1T-TiSe[2]: эксперимент и модельные расчеты фотоэлектронной дифракции
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С.1166-1169: рис. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2012/76/9). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 1169 (5 назв. )
УДК : 544.225:544.227
ББК : 24.52
Предметные рубрики: Химия
Химия твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): edac-код--дифракционные картины--дихалькогениды--моделирование--рентгеновская фотоэлектронная дифракция--стм-микроскопия--структурные дефекты--точечные дефекты
Аннотация: Методами СТМ-микроскопии и рентгеновской фотоэлектронной дифракции (РФД) изучена поверхность 1T-TiSe[2]. Проведено моделирование дифракционных картин в приближении многократного рассеяния электронов в рамках EDAC-кода. Рассмотрены варианты точечных и структурных дефектов на поверхности 1T-TiSe[2]. Сопоставление экспериментальных и теоретических РФД-картин выполнено на основе анализа R-фактора их сходимости.
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 07.09.2024
Число запросов	18811
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)