Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Книги" (18)Труды АМГУ (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=оптоэлектроника<.>)
Общее количество найденных документов : 23
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-23 
1.


    Зимина, Татьяна (кандидат химических наук).
    Алмазная электроника [Текст] / Татьяна Зимина // Наука и жизнь. - 2010. - N 7. - С. 12 : 1 фот. . - ISSN 0028-1263
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
исследовательские институты -- графит -- алмазы -- оптоэлектроника -- алмаз-графитовые структуры -- графитизация алмаза -- кристаллы -- углерод
Аннотация: Сотрудники Физического института имени П. Н. Лебедева РАН разработали способ получения тончайших графитизированных слоев в алмазе. Эта разработка открывает реальную перспективу создания элементов электроники и оптоэлектроники на основе алмазов.


Доп.точки доступа:
Российская академия наук \физический институт им. п. н. лебедева\; РАН; Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

2.


    Майер, А. А.
    Анализ квантовых и волноводных свойств многослойных наноструктур и микроструктур [Текст] / А. А. Майер // Доклады Академии наук. - 2011. - Т. 439, N 6, август. - С. 752-756. . - Библиогр.: с. 756
УДК
ББК 22.34
Рубрики: Физика
   Оптика в целом

Кл.слова (ненормированные):
многослойные наноструктуры -- многослойные микроструктуры -- волноводная оптоэлектроника
Аннотация: Представлен анализ квантовых и волноводных свойств многослойных наноструктур и микроструктур.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

3.


    Иткинсон, Г. В.
    Взгляд из будущего [Текст] / Г. В. Иткинсон // Энергосбережение. - 2010. - N 2. - С. 40-41 : 2 фот. . - ISSN 1609-7505
УДК
ББК 31.294
Рубрики: Энергетика
   Электрическое освещение. Светотехника

Кл.слова (ненормированные):
интервью -- лампы люминесцентные -- люминесцентные лампы -- освещение -- полупроводниковые приборы -- приборы полупроводниковые -- светодиоды
Аннотация: Основным направлением в решении проблемы энергосбережения в освещении общепризнанно является переход к новому поколению светотехнических приборов - светодиодам.


Доп.точки доступа:
Светлана-Оптоэлектроника, ЗАО; ЗАО "Светлана-Оптоэлектроника"

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

4.


   
    Жорес Иванович Алферов [Текст] : (к 80-летию со дня рождения) // Успехи физических наук. - 2010. - Т. 180, N 3. - С. 333-334 : 1 фот. . - ISSN 0042-1294
ГРНТИ
УДК
ББК 22.3г
Рубрики: Физика
   История физики

Кл.слова (ненормированные):
персоналии -- академики -- физики -- полупроводниковые лазеры -- оптоэлектроника -- квантовые точки -- лазеры
Аннотация: Исследования Ж. И. Алферова в области полупроводниковых гетеропереходов вскоре вышли за рамки новых научных и технических направлений. Одним из ярких примеров явилась реализация эффективных солнечных фотоэлементов на основе гетероструктур.


Доп.точки доступа:
Алферов, Ж. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

5.


    Цизин, Г. И.
    Какие аналитические приборы производят в России? [Текст] / Г. И. Цизин, Ю. А. Золотов // Журнал аналитической химии. - 2021. - Т. 76, № 4. - С. 369-379 : 8 табл. . - ISSN 0044-4502
ГРНТИ
УДК
ББК 24.4
Рубрики: Химия
   Аналитическая химия в целом--Россия, 21 в.

Кл.слова (ненормированные):
анализаторы -- аналитические весы -- аналитические приборы -- атомно-абсорбционные спектрометры -- атомно-эмиссионные спектрометры -- заводы -- измерительные приборы -- институты -- ионная подвижность -- масс-спектрометры -- приборные заводы -- приборы ионной подвижности -- производство аналитических приборов -- рентгеновские приборы -- спектральный анализ -- спектрометры -- хроматографы -- экспериментальные заводы -- электрохимические приборы
Аннотация: Рассмотрены приборы для разных областей спектрального анализа: масс-спектрометры, хроматографы, электрохимические приборы, аналитические весы, производимые в России в XXI веке.


Доп.точки доступа:
Золотов, Ю. А.; Институт аналитического приборостроения РАНЭкспериментальный завод научного приборостроения; Новоуральский приборный завод; ЗАО "Научприбор"; "Научприбор", ЗАО; ЗАО Научприбор; ООО "ВМК Оптоэлектроника"; "ВМК Оптоэлектроника", ООО; ООО ВМК Оптоэлектроника

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : н.з. (1)
Свободны: н.з. (1)

Найти похожие

6.


    Монтразио, Ф.
    Компания Sharp - что нового [Текст] : рассказывает региональный менеджер компании Sharp Ф. Монтразио / беседу вел И. Шахнович // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2008. - N 5. - С. 6-7 . - ISSN 1992-4178
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
электронные компоненты -- компании -- интервью -- оптоэлектроника -- ЖК-дисплеи -- ВЧ-компоненты
Аннотация: Материал посвящен работе компании Sharp в области электронных компонентов.


Доп.точки доступа:
Шахнович, И. \.\; Sharp, компания

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

7.


   
    Методы эллипсометрического анализа поляризационно-оптических свойств неоднородных поверхностных слоев элементов оптоэлектроники [Текст] / В. С. Землянский [и др. ] // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 2. - С. 346-351.
УДК
ББК 22.34
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
поляризационно-оптические свойства -- неоднородные поверхностные слои -- оптоэлектроника -- эллипсометрический анализ -- теория Друде-Борна -- Друде-Борна теория -- отражение поляризованного света
Аннотация: На основе теорий отражения поляризованного света Друде-Борна описаны основные закономерности изменения основных эллипсометрических параметров отраженного светового пучка от неоднородных поверхностных слоев силикатных стекол. Изложен метод физико-математического моделирования профиля показателя преломления неоднородного поверхностного слоя силикатных стекол, позволяющий при наименьшей вероятности ошибки второго рода определять модель неоднородной отражающей системы, адекватной объекту исследования.


Доп.точки доступа:
Землянский, В. С.; Храмцовский, И. А.; Горляк, А. Н.; Степанчук, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

8.


    Сарычева, Н. А.
    Модернизация вакуумного эмиссионного спектрометра Polyvac E983 (Hilger Analytical) с помощью многоканального анализатора эмиссионных спектров МАЭС [Текст] / Н. А. Сарычева, М. Е. Кондрашева // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 128-134. - Библиогр.: с. 134 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
модернизация спектрометров -- вакуумные эмиссионные спектрометры -- эмиссионные спектрометры -- спектрометры -- Polyvac E983 (спектрометры) -- атомно-эмиссионный спектральный анализ -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- МАЭС -- анализаторы МАЭС -- программное обеспечение
Аннотация: Приведены результаты модернизации вакуумного эмиссионного спектрометра Polyvac E983 фирмы Hilger Analytical с помощью многоканального анализатора эмиссионных спектров МАЭС производства "ВМК-Оптоэлектроника".


Доп.точки доступа:
Кондрашева, М. Е.; Hilger Analytical, фирмаООО "ВМК-Оптоэлектроника"; ВМК-Оптоэлектроника, ООО

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

9.


    Иванов, С. В.
    Наноструктуры InSb/InAsSb для оптоэлектроники среднего ИК-диапазона [Текст] / С. В. Иванов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 1. - С. 85-88. - Библиогр.: с. 88 (8 назв. ). - d, 2007, , 0
УДК
ББК 22.33
Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
оптоэлектроника
Аннотация: В работе обсуждается технология получения методом молекулярно-пучковой эпитаксии наноструктур с квантовыми точками InSb в матрице InAs (Sb).


Доп.точки доступа:
Соловьев, В. А.; Семенов, А. Н.; Мельцер, Б. Я.; Сорокин, С. В.; Люблинская, О. Г.; Терентьев, Я. В.; Усикова, А. А.; Львова, Т. В.; Копьев, П. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.


    Белкин, М.
    Оптоэлектронный генератор [Текст] : первое практическое устройство СВЧ-электроники / М. Белкин, А. Лопарев // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2010. - N 6. - С. 62-69. . - Библиогр.: с. 69 (8 назв. )
УДК
ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
генераторы -- оптоэлектронные генераторы -- ОЭГ -- СВЧ-оптоэлектроника -- шумы -- ЧМ-шумы -- СВЧ-колебания
Аннотация: Рассмотрены принципы работы и анализ данных устройств, основные схемы и характеристики, итоги современных разработок и пути дальнейшего развития.


Доп.точки доступа:
Лопарев, А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

 1-10    11-20   21-23 
 
Статистика
за 22.07.2024
Число запросов 3573
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)