Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=многослойная оптика<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Виноградов А. В., Кондратенко В. В., Артюков И. А., Бугаев Е. А., Девизенко А. Ю., Касьянов Ю. С.
Заглавие : Рентгеновская микроскопия в области "углеродного окна" с использованием многослойной оптики и лазерно-плазменного источника
Серия: Статистическая, нелинейная физика, физика "мягкой материи"
Место публикации : Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 136, вып. 5. - С.1009-1022. - ISSN 0044-4510 (Шифр zhtf/2009/136/5). - ISSN 0044-4510
Примечания : Библиогр.: с. 1021-1022
УДК : 530.1
ББК : 22.31
Предметные рубрики: Физика
Теоретическая физика
Аннотация: Представлены первые результаты по созданию лабораторно-рентгеновского микроскопа для получения изображений высокого пространственного разрешения в диапазоне "углеродного окна".
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Барышева М. М., Пестов А. Е., Салащенко Н. Н., Торопов М. Н., Чхало Н. И.
Заглавие : Прецизионная изображающая многослойная оптика
Серия: Приборы и методы исследований
Место публикации : Успехи физических наук. - 2012. - Т. 182, № 7. - С.727-747: 16 рис., 6 табл. - ISSN 0042-1294 (Шифр upna/2012/182/7). - ISSN 0042-1294
Примечания : Библиогр.: с. 745-747 (126 назв.)
ГРНТИ : 29.31.15
УДК : 535-34/-36 + 535.2/.3
ББК : 22.346 + 22.343
Предметные рубрики: Физика
Рентгеновские лучи. Гамма-лучи
Физическая оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): многослойная оптика--электромагнитные поля--рентгеновская микроскопия--ультрафиолетовое излучение--рентгеновская оптика--фотолитография--оптические системы
Аннотация: Работа посвящена фундаментальным проблемам изготовления и тестирования, а также применениям в диапазоне длин волн 2-60 нм оптики, обеспечивающей дифракционное качество изображений и востребованной для проекционной литографии, рентгеновской микроскопии, астрофизики и для фундаментальных исследований в области взаимодействия вещества (вакуума) со сверхсильными электромагнитными полями.
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 18.08.2024
Число запросов	23610
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)