Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=многослойная оптика<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Рентгеновская микроскопия в области "углеродного окна" с использованием многослойной оптики и лазерно-плазменного источника [Текст] / И. А. Артюков [и др. ] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 136, вып. 5. - С. 1009-1022. - Библиогр.: с. 1021-1022 . - ISSN 0044-4510

УДК

^a530.1

ББК 22.31
Рубрики: Физика
Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская микроскопия -- микроскопы -- оптика -- микроскопия -- область углеродного окна -- использование многослойной оптики -- многослойная оптика -- лазерно-плазменные источники -- углеродное окно -- лабораторно-рентгеновский микроскоп
Аннотация: Представлены первые результаты по созданию лабораторно-рентгеновского микроскопа для получения изображений высокого пространственного разрешения в диапазоне "углеродного окна".

Доп.точки доступа:
Виноградов, А. В.; Кондратенко, В. В.; Артюков, И. А.; Бугаев, Е. А.; Девизенко, А. Ю.; Касьянов, Ю. С.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Прецизионная изображающая многослойная оптика [Текст] / М. М. Барышева [и др.] // Успехи физических наук. - 2012. - Т. 182, № 7. - С. 727-747 : 16 рис., 6 табл. - Библиогр.: с. 745-747 (126 назв.) . - ISSN 0042-1294

ГРНТИ	29.31.15
УДК	^a535-34/-36	^a535.2/.3

ББК 22.346 + 22.343
Рубрики: Физика
Рентгеновские лучи. Гамма-лучи
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
многослойная оптика -- электромагнитные поля -- рентгеновская микроскопия -- ультрафиолетовое излучение -- рентгеновская оптика -- фотолитография -- оптические системы
Аннотация: Работа посвящена фундаментальным проблемам изготовления и тестирования, а также применениям в диапазоне длин волн 2-60 нм оптики, обеспечивающей дифракционное качество изображений и востребованной для проекционной литографии, рентгеновской микроскопии, астрофизики и для фундаментальных исследований в области взаимодействия вещества (вакуума) со сверхсильными электромагнитными полями.

Доп.точки доступа:
Барышева, М. М.; Пестов, А. Е.; Салащенко, Н. Н.; Торопов, М. Н.; Чхало, Н. И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	9754
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)