Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Книги" (63)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроэлектроника<.>)
Общее количество найденных документов : 113
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-113 
1.


    Майская, В.
    8-бит микроконтроллеры [Текст] / В. Майская // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2008. - N 8. - С. 26-35.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
микроконтроллеры -- 8-бит микроконтроллеры -- микроэлектроника -- микросхемы -- ПЛИС -- расход энергии
Аннотация: Рассмотрены тенденции рынка производства и сбыта 8-бит микроконтроллеров.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

2.


    Дёмин, А.
    API TECHNOLOGIES: одна компания – множество решений [Текст] / А. Дёмин // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2014. - № 5. - С. 74-79 . - ISSN 1992-4178
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
ВЧ/СВЧ-устройства -- компании -- конденсаторы -- микроэлектроника -- усилители
Аннотация: В процессе разработки перед каждым инженером встает вопрос о выборе элементной базы. Как найти именно то, что нужно, среди предложений множества компаний? Простым решением может быть выбор производителя, выпускающего продукцию в широкой номенклатуре. Пример такой компании – API Technologies. В статье освещена ее деятельность в области ВЧ/СВЧ-устройств.


Доп.точки доступа:
API Technologies, компания
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

3.


    Архипова, Е.
    ChipEXPO-2008 и Display-2008 в "Экспоцентре" [Текст] / Е. Архипова // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2008. - N 7. - С. 108-109.
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
выставки -- выставочные стенды -- микроэлектроника -- дисплеи -- информационные дисплеи
Аннотация: Речь идет о российских выставках по электронике, микроэлектронике и компонентам ChipEXPO-2008 и Display-2008, прошедших в "Экспоцентре".


Доп.точки доступа:
Экспоцентр; ChipEXPO-2008, выставка; Display-2008, выставка
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

4.


   
    ExpoElectronica и ElectronTechExpo - в авангарде курса на импортозамещение в РЭП [Текст] = ExpoElectronica and ElectronTechExpo - at the forefront of import substitution in electronic countermeasure // Контрольно-измерительные приборы и системы = Test & Measuring Instruments and Systems. - 2021. - № 2 (июнь). - С. 28-31 : ил., фот.
УДК
ББК 32.85 + 34.9
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

   Приборостроение

   Приборостроение в целом

Кл.слова (ненормированные):
РЭП -- выставки -- контрольно-измерительная аппаратура -- контрольно-измерительная техника -- контрольно-измерительное оборудование -- контрольно-измерительные приборы -- микроэлектроника -- полупроводниковые устройства -- радиоэлектронная продукция -- радиоэлектронная промышленность -- электронное оборудование -- электронные комплектующие -- электронные компоненты
Аннотация: В 2021 году ExpoElectronica и ElectronTechExpo традиционно стали эффективной платформой для общения профессионалов отрасли микро- и радиоэлектроники. Выставки и мероприятия прошли с 13 по 15 апреля 2021 года. В 2021 году в выставках ExpoElectronica и ElectronTechExpo приняли участие 282 компании из девяти стран: России, Китая, Китайской Республики (Тайвань), Германии, Франции, Чехии, Южной Кореи, Армении и Белоруссии. Кроме того, 32 субэкспонента работали на стендах своих партнеров. На площадке ExpoElectronica и ElectronTechExpo активно заключались соглашения и договоры.


Доп.точки доступа:
ExpoElectronica, Международная выставка электронных компонентов, модулей и комплектующих; ElectronTechExpo, Международная выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности; Международная выставка "ExpoElectronica"; Международная выставка "ElectronTechExpo"
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

5.


   
    SEMICON – эффективная площадка для развития бизнеса [Текст] // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2014. - № 5. - С. 146-150 . - ISSN 1992-4178
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
выставки -- инновационные технологии -- микроэлектроника -- технологические тренды -- форумы
Аннотация: Материал посвящен выставке SEMICON, занимающей особое место в ряду форумов, ориентированных на рынок микроэлектроники.


Доп.точки доступа:
SEMICON, выставка
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

6.


   
    SEMICON/SOLARCON Russia 2011! [Текст] // Современная электроника. - 2011. - N 5. - С. 78. : ил.
УДК
ББК 32.97
Рубрики: Вычислительная техника
   Вычислительная техника в целом

Кл.слова (ненормированные):
выставки -- микроэлектроника -- отечественные рынки -- полупроводниковая промышленность -- радиоэлектронная аппаратура -- фотовольтаика
Аннотация: С 31 мая по 2 июня 2011 г. в ЦВК "Экспоцентр" на Красной Пресне состоится выставка полупроводниковой промышленности и фотовольтаики SEMICON/SOLARCON Russia 2011, организуемая под эгидой Международной промышленной ассоциацией SEMI.


Доп.точки доступа:
SEMICON/SOLARCON Russia 2011, выставка

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

7.


    Стемпковский, А. Л.
    XII Международная конференция DATE 2009 [Текст] / А. Л. Стемпковский // Информационно-управляющие системы. - 2009. - N 4 (41). - С. 76. : 2 рис.
УДК
ББК 30.2
Рубрики: Техника
   Проектирование

Кл.слова (ненормированные):
автоматизация проектирования -- тестирование электронных схем -- микроэлектроника -- САПР -- конференции
Аннотация: Рассказывается о международной конференции, которая объединила академических исследователей, разработчиков, продавцов и пользователей в области автоматизации проектирования, тестирования электронных схем и систем.


Доп.точки доступа:
DATE 2009, международная конференция; Международная конференция DATE 2009

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

8.


   
    [Научно-популярные журналы мира сообщают] [Текст] // Наука и жизнь. - 2011. - N 4. - С. 78-80. : 3 фот.
УДК
ББК 52.82 + 63.48(4/8) + 28.04 + 60.52
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
   Фармация

   Археология--Италия--Помпеи

   Археология зарубежных стран

   Биология

   Общая генетика

   Социология

   Социология общества

Кл.слова (ненормированные):
лекарства -- города -- древние города -- сроки годности -- закон Мура -- Мура закон -- геномика -- арахнофобия -- интернет -- микроэлектроника
Аннотация: Научно-популярные журналы мира сообщают: в США сроки годности лекарств контролируются государством и делается это на основании обязательных испытаний каждого препарата; древнему городу Помпеи, погибшему в 79 году новой эры, угрожает вторая, окончательная гибель; оказывается закон Мура, применяемый в микроэлектронике, можно использовать и в геномике, а также интересные факты и цифры из жизни общества.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

9.


   
    [Научно-популярные журналы мира сообщают] [Текст] // Наука и жизнь. - 2015. - № 9. - С. 58-61 : 3 фот. . - ISSN 0028-1263
УДК
ББК 60.52 + 22.6с5 + 32.844 + 35.72 + 39г
Рубрики: Социология
   Социология общества

   Астрономия

   Астрономические приборы

   Радиоэлектроника

   Радиоаппаратура

   Химическая технология

   Каучук и резина

   Транспорт

   История транспорта

Кл.слова (ненормированные):
гуттаперча -- квантовая механика -- микроволны -- микроэлектроника -- отрасли хозяйства -- радиотелескопы -- резиноподобные материалы -- рыбы -- суда -- телескопы -- туберкулез -- электромобили -- электроника
Аннотация: Научно-популярные журналы мира сообщают: микроэлектроника, исходя из фактов, сильно опережает прогресс по сравнению с другими отраслями хозяйства; устройства, испускающие микроволны, мешают работе радиотелескопов; в последнее время люди из разных стран на берегах Европы стали находить странные пластины из резиноподобного материала, оказалось, что это гуттаперча с одного затонувшего сто лет назад японского судна, а также цифры и факты из жизни общества.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

10.


    Серов, А. Н.
    Анализ методической погрешности при цифровом измерении мощности и энергии [Текст] / А. Н. Серов, А. А. Шатохин // Вестник Московского энергетического института. - 2008. - N 5. - С. 107-112.
УДК
ББК 32.97
Рубрики: Вычислительная техника
   Вычислительная техника в целом

Кл.слова (ненормированные):
методическая погрешность -- цифровые измерения -- микроэлектроника -- мощность -- энергия -- напряжение
Аннотация: Проанализирована методическая погрешность цифрового измерения активной мощности и энергии.


Доп.точки доступа:
Шатохин, А. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

11.


    Шадров, В. Г.
    Анизотропия магнитного гистерезиса в наноструктурированных магнитных средах [Текст] / В. Г. Шадров, А. В. Болтушкин, Л. В. Немцевич // Материаловедение. - 2013. - № 1. - С. 8-14 . - ISSN 1684-579X
УДК
ББК 30.3
Рубрики: Техника
   Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
процессы перемагничивания -- анизотропия -- магнитный гистерезис -- межкристаллитные магнитные взаимодействия -- магнитные наноструктурированные среды -- магнитная микроэлектроника
Аннотация: На основе исследований зависимостей гистерезисных характеристик от угла перемагничивания анализируются процессы перемагничивания в наноструктурированных магнитных покрытиях и магнитных частицах, а также их связь с межкристаллитным (межчастичным) магнитным взаимодействием и эксплуатационными характеристиками материалов для магнитной записи и магнитной микроэлектроники.


Доп.точки доступа:
Болтушкин, А. В.; Немцевич, Л. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

12.


    Плюснин, Н. И.
    Атомно-масштабное управление молекулярно-лучевым ростом тонкоплёночных наногетероструктур [Текст] / Н. И. Плюснин // Вестник Дальневосточного отделения РАН. - 2010. - N 5. - С. 26-34. - Библиогр. в конце ст. . - ISSN 0869-7698
УДК
ББК 22.379
Рубрики: Физика--Физика полупроводников и диэлектриков
Кл.слова (ненормированные):
металл-полупроводниковые наногетероструктуры -- система металл 3d переходной группы - кремний -- тонкоплёночные приборы -- кремниевая микроэлектроника -- кремниевая нанотехнология -- ультратонкие плёнки -- тонкопленочные наногетероструктуры -- молекулярные пучки -- электронная спектроскопия -- молекулярно-лучевой рост -- рост поверхностной фазы -- плёночные нанофазы -- многослойные наноструктуры


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

13.


    Ростопчин, В.
    Беспилотные авиационные системы: основные понятия [Текст]. Ч. 1 / В. Ростопчин, И. Бурдун // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2009. - N 4. - С. 82-88. . - Библиогр.: с. 88 (5 назв. )
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
БАС -- беспилотные авиационные системы -- микроэлектроника -- БЛА -- беспилотные летательные аппараты -- энерговооруженность
Аннотация: Авторы статьи анализируют и классифицируют основные характеристики БАС, показывая их взаимосвязь.


Доп.точки доступа:
Бурдун, И.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (заказ статей по ЭДД) (1)
Свободны: эн.ф. (заказ статей по ЭДД) (1)

Найти похожие

14.


    Малышев, Никита.
    Библиотеки HDL-тестов для систем моделирования цифровой аппаратуры [Текст]. Ч. 1. Отечественная САПР проектирования микроэлектроники / Никита Малышев, Аркадий Поляков // Современная электроника. - 2023. - № 3. - С. 12-15 : 7 рис., 2 табл. - Библиогр. в конце ст. (6 назв. )
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
HDL-системы -- САПР -- верификация -- микроэлектроника -- системы автоматизированного проектирования -- тесты -- цифровое моделирование -- цифровое проектирование
Аннотация: В статье рассматриваются вопросы создания HDL-тестов для верификации работы отечественной системы цифрового проектирования и моделирования Delta Design Simtera компании ЭРЕМЕКС.


Доп.точки доступа:
Поляков, Аркадий; Компания ЭРЕМЕКСЭРЕМЕКС, компания

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

15.


    Полянский, И. И.
    Быть ближе к заказчику - залог успеха [Текст] : рассказывает заместитель директора по маркетингу и развитию компании "АРГУССОФТ" И. И. Полянский / беседу вели Г. А. Свидерская и И. В. Шахнович // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2007. - N 8. - С. 9-12
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- инновации -- интервью -- программное обеспечение -- микроконтроллеры -- высоковольтные конденсаторы -- полупроводниковые модули -- источники питания
Аннотация: Рассказано о создании и развитии компании "АРГУССОФТ".


Доп.точки доступа:
Свидерская, Г. А.; Шахнович, И. В.; АРГУССОФТ, компания

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

16.
Шифр: vope/2005/9
   Журнал

Вопросы экономики [Текст] : теоретический и научно-практический журнал. - ISSN 0042-8736. - Выходит ежемесячно
2005г. N 9
Содержание:
Ясин, Е. Нефть, темпы и инфляция / Е. Ясин. - С.4-20
Кл.слова: ИНВЕСТИЦИИ, основной капитал, МОНЕТИЗАЦИЯ, кредитование экономики
Рудакова, И. Основные течение экономической теории: потенциал и научная критика / И. Рудакова. - С.21-35
Бузгалин, А. Политическая экономия постсоветского марксизма / А. Бузгалин, А. Колганов. - С.36-55
Кл.слова: НЕОМАРКСИЗМ, РЕАЛЬНЫЙ СОЦИАЛИЗМ, ЭКОНОМИКА
Кощегулова, И. Сущность устойчивости денежной единицы в свете теории соглашений / И. Кощегулова. - С.56-66
Кл.слова: ДЕНЕЖНАЯ ЕДИНИЦА, ОБЩЕСТВЕННОЕ ДОВЕРИЕ
Клейнер, Г. Экономическое состояние и институциональное окружение российских промышленных предприятий: эмпирический анализ взаимосвязей / Г. Клейнер, Р. Качалов, Е. Сушко. - С.67-86
Кл.слова: ПРОМЫШЛЕННОЕ ПРЕДПРИЯТИЕ, ЭКОНОМИЧЕСКОЕ СОСТОЯНИЕ, СОЦИАЛЬНО-ЭКОНОМИЧЕСКАЯ СИТУАЦИЯ, АНКЕТА
Пантелеев, Е. Современное состояние промышленности Москвы и направления ее развития / Е. Пантелеев. - С.87-103
Кл.слова: ПРОМЫШЛЕННОСТЬ Москвы, современное состояние
Статистическое исследование спросовых условий в отраслях российской промышленности / Н.Райская, Я. Сергеенко, А. Френкель, С. Цухло. - С.104-116
Кл.слова: ПЛАТЕЖЕСПОСОБНЫЙ СПРОС, КРЕДИТОВАНИЕ
Антонец, Е. О необходимости приоритетного развития производства микроэлектроники в России / Е. Антонец. - С.117-128
Кл.слова: МИКРОЭЛЕКТРОНИКА, экономика стран мира, ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, продукция электроника, потребление
Мишустин, М. Роль кадастра объектов недвижимости в современном государстве / М. Мишустин. - С.129-136, КАДАСТРОВ СИСТЕМЫ, НАЦИОНАЛЬНЫЕ
Попов, Г. Вольно экономическое общества и социально-экономические реформы в России / Г. Попов. - С.137-148
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эк. (1)
Свободны: эк. (1)

Найти похожие

17.


    Андросов, А.
    Герметичные СВЧ-вводы для микроэлектроники. Электрические параметры и методика их измерения [Текст] / А. Андросов, К. Джуринский // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2013. - № 5. - С. 84-90 . - ISSN 1992-4178
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
СВЧ-вводы -- герметичные СВЧ-вводы -- микроэлектроника -- электрические параметры
Аннотация: Авторами статьи предложена методика измерения КСВН с максимальной погрешностью 7% и потерь вводов – с погрешностью 6%. Методика может применяться при разработке и проведении испытаний СВЧ-вводов.


Доп.точки доступа:
Джуринский, К.; NXP, компания

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

18.


   
    Динамика антиферромагнитных вихрей в доменных границах ортоферрита иттрия [Текст] / М. В. Четкин [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 11. - С. 1536-1538. - Библиогр.: c. 1538 (9 назв. )
УДК
ББК 22.3 + 22.33
Рубрики: Физика
   Общие вопросы физики

   Электричество и магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
антиферромагнитные вихри -- волны -- доменные границы -- изгибные волны -- магнитные материалы -- микроэлектроника -- ортоферрит иттрия -- уединенные изгибные волны -- экспериментальные данные
Аннотация: Экспериментальные результаты подтверждают, что уединенные изгибные волны сопровождают антиферромагнитные вихри на доменной границе отроферрита иттрия.


Доп.точки доступа:
Четкин, М. В.; Курбатова, Ю. Н.; Шапаева, Т. Б.; Борщеговский, О. А.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

19.


    Макушин, М.
    Домасштабировались? Экономика уменьшения топологий [Текст] / М. Макушин // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2014. - № 3. - С. 134-147 . - ISSN 1992-4178
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
20-нм технологии -- масштабирование -- микроэлектроника -- полупроводниковая промышленность -- топологические нормы
Аннотация: Сегодня существуют серьезные причины рассмотреть варианты 28-нм процесса, обеспечивающего в сравнении с процессом предыдущего поколения меньшее энергопотребление и более высокий выход годных, а следовательно, и меньшие издержки производства. Проанализировать стоимостные показатели различных вариантов 28-нм технологического процесса следует и для принятия правильного решения относительно развития следующего поколения – 20-нм технологии.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

20.


    Самсонов, Александр.
    Жорес Алферов: флагман отечественной электроники [Текст] / А. Л. Самсонов // Экология и жизнь. - 2010. - N 5. - С. 4-11
УДК
ББК 72
Рубрики: Наука. Науковедение
   Общие вопросы науки

Кл.слова (ненормированные):
ученые -- физики -- нобелевские лауреаты -- научная деятельность -- микроэлектроника
Аннотация: О научной деятельности нобелевского лауреата, академика Жореса Ивановича Алферова.


Доп.точки доступа:
Алферов, Ж. И. (академик ; 1930-)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

 1-20    21-40   41-60   61-80   81-100   101-113 
 
Статистика
за 07.08.2024
Число запросов 10997
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)