Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 117
Показаны документы с 1 по 20 |
|
>1.
| Серков А. Т. Нанотехнологии и химические волокна/А. Т. Серков, М. Б. Радишевский // Химические волокна, 2008,N N 1.-С.С. 26-30
|
>2.
| Козырев В. В. Мехатронные модули для наноиндустрии/В. В. Козырев // Мехатроника, автоматизация, управление, 2008,N N 1.-С.С. 23-27
|
>3.
| Моделирование пористости в карбонатных пластах на примере Оренбургского нефтегазоконденсатного месторождения/Н. А. Скибицкая [и др. ] // Известия вузов. Геология и разведка, 2007,N N 3.-С.С. 71-74
|
>4.
| Источник сферической волны на основе зонда ближнепольного микроскопа/А. Ю. Климов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая, 2008. т.Т. 72,N N 2.-С.С. 221-223
|
>5.
| Плужников В. Когда-то в июне/Владимир Плужников // Изобретатель и рационализатор, 2008,N N 6.-С.3-я с. обл.
|
>6.
| Карташев В. А. Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда/В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления, 2008,N N 4.-С.159-164
|
>7.
| Соколов Д. Ю. Особенности патентования объектов нанотехнологии/Д. Ю. Соколов // Патенты и лицензии, 2008,N N 6.-С.С. 14-19
|
>8.
| Баранов Д. В. Поляризационный метод характеризации прямоугольных микроканавок по фазовым откликам дифференциального гетеродинного микроскопа/Д. В. Баранов, Е. М. Золотов // Оптика и спектроскопия, 2008. т.Т. 105,N N 3
|
>9.
| Казьмирук В. В. Сканирующие электронные микроскопы МикроСкан серии МС20/В. В. Казьмирук // Известия РАН. Серия физическая, 2008. т.Т. 72,N N 11
|
>10.
| Миронов В. Л. Влияние поля зонда магнитно-силового микроскопа на распределение намагниченности в исследуемых образцах/В. Л. Миронов, А. А. Фраерман, О. Л. Ермолаева // Известия РАН. Серия физическая, 2008. т.Т. 72,N N 11
|
>11.
| Скибицкая Н. А. Методика исследования в растровом электронном микроскопе матричной нефти/Н. А. Скибицкая, В. А. Кузьмин, А. В. Гаршев // Известия РАН. Серия физическая, 2008. т.Т. 72,N N 11
|
>12.
| [Новости зарубежной научно-технической информации] // Наука и жизнь, 2008,N N 10
|
>13.
| Сердюков О. Видит атомы/О. Сердюков // Изобретатель и рационализатор, 2009,N N 1
|
>14.
| Быков В. Продвижение в глубь материи/Виктор Быков // Наука в России, 2008,N N 6
|
>15.
| Электродинамическая теория ближнепольной СВЧ-микроскопии плоскослоистых структур и ее применение для метрологии тонких диэлектрических пленок/А. Н. Резник [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая, 2009. т.Т. 73,N N 1
|
>16.
| Сердюков О. Нано или не нано?/О. Сердюков // Изобретатель и рационализатор, 2009,N N 3
|
>17.
| Первые российские стандарты в нанотехнологии/В. П. Гавриленко [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая, 2009. т.Т. 73,N N 4
|
>18.
| Новиков Ю. А. Калибровка атомно-силовых микроскопов/Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Известия РАН. Серия физическая, 2009. т.Т. 73,N N 4
|
>19.
| Криостат РУПИК к сканирующему электронному микроскопу для послойного исследования структуры различных объектов/А. И. Чемерис [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая, 2009. т.Т. 73,N N 4
|
>20.
| Геворкян Э. Великолепная десятка/Эдуард Геворкян // Наука и религия, 2009,N N 9
|
|
|