Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=метрологические модели<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Отмахов, В. И.
Оптимизация условий проведения атомно-эмиссионного спектрального анализа порошковых проб сложного состава на графитовой основе [Текст] / В. И. Отмахов, Е. В. Петрова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 82-85. - Библиогр.: с. 85 (6 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a543.4/.5

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
атомно-эмиссионный спектральный анализ -- спектральный анализ -- порошковые пробы сложного состава -- порошковые пробы на графитовой основе -- источники возбуждения -- программное обеспечение -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- анализаторы МАЭС -- метрологические модели -- методики спектрального анализа -- качество измерений -- метрологическая корректировка
Аннотация: Исследованы и описаны различные режимы спектрального анализа порошковых проб на графитовой основе.

Доп.точки доступа:
Петрова, Е. В.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1)
Свободны: ч.з. (1)

Найти похожие

Демин, А. Н.
Метрологическая модель волоконно-оптических датчиков электрического тока [Текст] / А. Н. Демин, В. А. Потапов // Энергетик. - 2017. - № 2. - С. 26-30. - Библиогр.: с. 30 (10 назв.) . - ISSN 0013-7278

УДК

^a620.9

ББК 31.16
Рубрики: Энергетика
Энергетическое оборудование
Кл.слова (ненормированные):
волоконно-оптические датчики -- метрологические модели -- однопроходные оптические схемы -- погрешности измерений -- электрический ток
Аннотация: Предложенная метрологическая модель датчика с однопроходной оптической схемой позволяет проанализировать источники его основной и дополнительной погрешностей.

Доп.точки доступа:
Потапов, В. А. (кандидат физико-математических наук)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 31.07.2024
Число запросов	48801
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)