Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=метод электронной микроскопии<.>)

Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Бардаханов С.П., Корчагин А.И., Куксанов Н.К., Лаврухин А.В., Салимов Р.А., Фадеев С.Н., Черепков В.В.
Заглавие : Использование ускорителя электронов для получения нанопорошков испарением исходных веществ при атмосферном давлении
Место публикации : Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 2. - С. 22-26 (Шифр izph/2007/50/2)
Примечания : Библиогр.: с. 26 (6 назв. )
ISSN: 0021-3411
УДК : 539.19 + 539.21(06)
ББК : 22.36
Предметные рубрики: Физика-- Молекулярная физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метод электронной микроскопии--нанодисперсные порошки--нанопорошки--рентгенофазовый анализ--ускоритель электронов
Аннотация: В процессе испарения различных исходных материалов при атмосферном давлении могут получаться нанодисперсные порошки высокой чистоты, которые проявляют необычные свойства и могут быть использованы в различных технологиях. В частности, авторами получены нанодисперсные порошки: оксидов - диоксида и оксида кремния (SiO[2], SiO), оксида магния (MgO), оксида алюминия (Al[2]O[3]), закиси меди (Cu[2]O) ; металлов - тантала (Ta), молибдена (Mo), алюминия (Al), серебра (Ag) и некоторых других в различных атмосферах; полупроводника - кремния (Si) ; нитридов - алюминия (AlN), титана (TiN) и других веществ. В разработанном процессе важно то, что основной компонент установки способен создавать высокие температуры для испарения любых тугоплавких материалов. Процесс осуществляется при высоких КПД и производительности.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Овчинников В.В., Гущина Н.В., Махинько Ф.Ф., Чемеринская Л.С., Школьников А.Р., Можаровский С.М., Филиппов А.В., Кайгородова Л.И.
Заглавие : Структурные особенности алюминиевого сплава 1441, подвергнутого облучению ионами Ar{+}
Место публикации : Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 2. - С. 73-81 (Шифр izph/2007/50/2)
Примечания : Библиогр.: с. 80-81 (24 назв. )
ISSN: 0021-3411
УДК : 669.017 + 669.71:539.12.04
ББК : 34.2
Предметные рубрики: Машиностроение-- Металловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): алюминиевые сплавы--метод электронной микроскопии--полигональная структура--ячеистая структура
Аннотация: Методом электронной микроскопии установлено, что облучение ионами Ar{+} с энергией 40 кэВ плакированных нагартованных образцов промышленного алюминиевого литиевого сплава 1441 при малых дозах облучения и плотностях ионного тока порядка 100 мкА/см{2} приводит к трансформации ячеистой структуры, сформированной в сплаве при деформации. При повышении дозы облучения до 10{16} см{-2} наблюдается переход от ячеистой структуры к субзеренной, близкой к полигональной. Эффективность этого процесса повышается при увеличении плотности ионного тока. Кроме того, под действием ионного облучения при повышенных плотностях ионного тока происходит растворение частиц (Al[3]Zr) и Al[8]Fe[2]Si, присутствующих в деформированном сплаве, и образование дисперсных частиц новой фазы Al[2]LiMg пластинчатой формы. Изменения дислокационной структуры и фазового состава в сплаве 1441 наблюдается после нескольких секунд облучения не только в поверхностном слое, прилегающем к зоне внедрения ионов, но и по всей толщине образца, в десятки тысяч раз превышающей их проективные пробеги.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Коротаев А. Д., Борисов Д. П., Мошков Д. Ю., Овчинников С. В., Оскомов К. В., Пинжин Ю. П., Савостиков В. М., Тюменцев А. Н.
Заглавие : Нанокомпозитные и наноструктурные сверхтвердые покрытия системы Ti-Si-B-N
Серия: Физика конденсированного состояния
Место публикации : Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 10. - С. С. 13-23 (Шифр izph/2007/50/10)
Примечания : Библиогр.: c. 22-23 (34 назв. )
УДК : 539.2
ББК : 22.37
Предметные рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метод электронной микроскопии--нанокомпозитные покрытия--наноструктурные покрытия--рентгеноструктурный анализ--система ti-si-b-n--электронной микроскопии метод
Аннотация: Методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, измерения микро- и нанотвердости исследованы особенности взаимосвязи тонкой структуры с изменением прочностных свойств наноструктурных и нанокомпозитных покрытий Ti-Si-B-N с высоким содержанием примесей кислорода и углерода. Показано, что в условиях низкотемпературного (Т=200 С) нанесения покрытий формируется двухуровневая зеренная структура с фрагментацией зерен размером 0, 1-0, 3 мкм на субзерна размером 15-20 нм и наличием текстуры {200}. С увеличением содержания кремния формируются бестекстурные покрытия с размером зерна кристаллической фазы менее 15 нм и высокой аморфной составляющей либо покрытия с аморфно-кристаллической структурой. При температурах нанесения покрытий 400-450 С наблюдается нанокомпозитная структура с размером зерна d=10-15 нм и отсутствием текстуры. Для всех изученных составов и условий получения обнаруживается кристаллическая фаза Ti[1-x]Si[x]N.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Крюкова Л. М., Макалкина Е. А., Салихов С. В.
Заглавие : Оценка параметров наноструктурного состояния: комплексный подход и математический аппарат исследования и обработки экспериментальных данных
Серия: Методы анализа и испытаний материалов
Место публикации : Материаловедение. - 2010. - N 8. - С. 8-11 (Шифр mtrl/2010/8)
УДК : 539.2
ББК : 22.37
Предметные рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктурные состояния--метод электронной микроскопии--рентгеноструктурный анализ--диффузное рассеяние--поля упругих смещений--мощности наноразмерных дефектов
Аннотация: На основе электронно-микроскопического и рентгеноструктурного методов исследования разработан комплексный подход и математический аппарат обработки экспериментальных данных для получения характеристик наноструктурного состояния.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Крюкова Л. М., Макалкина Е. А., Чернов В. М.
Заглавие : Оценка параметров наноструктурного состояния: исследование малоактивированных сплавов на основе ванадия
Серия: Структура и свойства материалов
Место публикации : Материаловедение. - 2010. - N 9. - С. 22-29 (Шифр mtrl/2010/9)
УДК : 669.7/.8 + 539.2 + 544.22
ББК : 34.23/25 + 22.37 + 24.52
Предметные рубрики: Технология металлов
Металловедение цветных металлов и сплавов
Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Химия
Химия твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктурные состояния--метод электронной микроскопии--рентгеноструктурный анализ--диффузное рассеяние--поля упругих смещений--сплавы--твердые растворы
Аннотация: Используя разработанную методику, проведено комплексное исследование структурных состояний сплава V—4Ti—4Cr. Рассмотрены различные стадии распада твердого раствора с образованием наноразмерных предвыделений, а также присутствие в матрице различного количества наноразмерной второй фазы.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Фарбер В. М., Арабей А. Б., Пышминцев И. Ю., Хотинов В. А., Селиванова О. В., Юровских А. С., Лежнин Н. В.
Заглавие : Дисперсные фазы в высокопрочных низкоуглеродистых микролегированных сталях для сварных конструкций
Серия: Структура и свойства материалов
Место публикации : Материаловедение. - 2012. - N 1. - С. 11-17 (Шифр mtrl/2012/1)
УДК : 620.1/.2
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Техника
Материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дисперсные фазы--низкоуглеродистые стали--микролегирование--сварные конструкции--метод электронной микроскопии--низкоуглеродистые микролегированные стали
Аннотация: Методами электронной микроскопии на фольгах и экстракционных репликах, рентгеноструктурного анализа электролитического осадка, микрорентгеновского спектрального анализа изучены морфология и химический состав выделений карбонитридных фаз Nb, Ti (C, N), Nb, V (C, N), а также эпсилон-фазы (Cu) в сталях 08Г2БТ, 05Г2ДБТ, 07Г2ФБ.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Жигалина О. М., Хмеленин Д. М., Котова Н. М., Шестакова Ю. А., Воротилов К. А., Сигов А. С., Дьяконова Н. Б.
Заглавие : Влияние легирования лантаном на структуру пленок ЦТС
Серия: Физика наноматериалов и наноструктур
Место публикации : Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. - 2012. - № 4. - С.17-21: рис. - ISSN 2225-0999 (Шифр ninm/2012/4). - ISSN 2225-0999
Примечания : Библиогр.: c. 20-21 (8 назв. )
УДК : 539.2
ББК : 22.37
Предметные рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): цтс--легирование лантаном--метод электронной микроскопии--пленки цтс--титанат-цирконат свинца--фазовый состав материалов--электронная микроскопия
Аннотация: Методами просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионного и рентгенофазового анализа исследованы структура, текстура и фазовый состав пленок ЦТС, легированных лантаном с концентрацией 2, 5 и 8 мол. % после отжига при температуре T = 650°C. Пленки получали методом химического осаждения и наносили на подложки Si-SiO (2) -TiO (2) -Pt. Установлено, что легирование лантаном повышает температуру превращения пирохлора в перовскитную фазу по сравнению с аналогичными пленками без лантана, что необходимо учитывать при выборе оптимальной температуры кристаллизации этих пленок.
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 28.07.2024
Число запросов	157780
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)