Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=вторично-ионная масс-спектрометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Кудрявцев Ю., Гаярдо С., Вьегас А., Рамирес Г., Асомоза Р.
Заглавие : Послойный анализ наноразмерных структур методом ВИМС: функция разрешения по глубине
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 7. - С. 947-950 (Шифр ranf/2008/72/7)
Примечания : Библиогр.: c. 950 (11 назв. )
УДК : 533.537
ББК : 22.3
Предметные рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): вторично-ионная масс-спектрометрия--наноразмерные структуры--функция разрешения по глубине--ионное облучение--поверхности--ионное вбивание--моделирование--шероховатость--ионное перемешивание
Аннотация: В работе рассмотрена новая модель функции разрешения по глубине для метода вторично-ионной масс-спектрометрии, рассматривающая процессы ионного вбивания и перемешивания и формирования рельефа на поверхности в процессе ионного облучения.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Морозов С. Н., Расулев У. Х.
Заглавие : Вторичная ионная эмиссия при бомбардировке висмута кластерными ионами Bi{-}[m] и Au{-}[m]
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 7. - С. 954-957 (Шифр ranf/2008/72/7)
Примечания : Библиогр.: c. 957 (18 назв. )
УДК : 532.533
ББК : 22.253
Предметные рубрики: Механика
Гидромеханика и аэромеханика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): вторичная ионная эмиссия--кластерные ионы--висмут--вторично-ионная масс-спектрометрия--кинетические энергии--тепловые пики--нелинейные каскады--экспериментальные исследования--поверхности
Аннотация: Исследованы масс-спектры вторичных кластерных ионов Bi{+}[n] (n=1-9) при распылении висмута кластерными ионами Au{-}[m] (m=1-9) и Bi{-}[m] (m=1-5) в диапазоне кинетических энергий бомбардирующих ионов 6-21 кэВ.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Мельников В. Н., Литвинов В. А., Коппе В. Т., Бобков В. В.
Заглавие : Исследование процессов в буферных растворах биоорганических систем методом ВИМС
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 7. - С. 983-987 (Шифр ranf/2008/72/7)
Примечания : Библиогр.: c. 987 (15 назв. )
УДК : 537.534.8:577.15
ББК : 22.338
Предметные рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): глюкоза--вторично-ионная масс-спектрометрия--биоорганические системы--буферные растворы--ферментативного окисление--гидролиз--глюконовая кислота--биосенсоры--глицерин--экспериментальные данные
Аннотация: Работа посвящена применению метода ВИМС с использованием жидкой матрицы для исследования процессов ферментативного окисления глюкозы в системе, моделирующей биосенсор на глюкозу.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дроздов М. Н., Дроздов Ю. Н., Пряхин Д. А., Шашкин В. И., Сенников П. Г., Поль П. Г.
Заглавие : Количественный безэталонный анализ концентрации изотопов {28, 29, 30}Si в кремнии методом ВИМС на установке TOF. SIMS-5
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 1. - С.84-86: Рис. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2010/74/1). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 86 (5 назв. )
УДК : 543.51:546.28
ББК : 24.4
Предметные рубрики: Химия
Аналитическая химия в целом
Аннотация: Показана возможность количественного безэталонного определения содержания изотопов {28-30}Si в образцах кремния методом ВИМС на установке TOF. SIMS-5.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дроздов М. Н., Клюенков Е. Б., Лопатин А. Я., Лучин В. И., Пестов А. Е., Салащенко Н. Н., Цыбин Н. Н., Чхало Н. И., Шмаенок Л. А.
Заглавие : Термически стойкие многослойные фильтры на основе молибдена для экстремального УФ-диапазона
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 77-79 (Шифр ranf/2011/75/1)
Примечания : Библиогр.: с. 79 (3 назв. )
УДК : 621.793.182
ББК : 34.64
Предметные рубрики: Машиностроение
Соединения деталей машин
Аннотация: Предложены новые многослойные структуры на основе молибдена и изготовлены образцы свободновисящих фильтров диаметром 160 мм с прозрачностью 71% на длине волны лямбда=13. 5 нм.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дроздов М. Н., Дроздов Ю. Н., Клюенков Е. Б., Лопатин А. Я., Лучин В. И., Салащенко Н. Н., Цыбин Н. Н., Шмаенок Л. А.
Заглавие : Эволюция распределения элементов в свободно висящих структурах Zr/ZrSi[2] с защитными слоями MoSi[2] и ZrSu[2] при отжиге
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 80-83 (Шифр ranf/2011/75/1)
Примечания : Библиогр.: с. 83 (3 назв. )
УДК : 621.793.182
ББК : 34.64
Предметные рубрики: Машиностроение
Соединения деталей машин
Аннотация: Методом вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС) проведен анализ распределения элементов по глубине в отожженных образцах многослойных ЭУФ-фильтров Zr/ZrSi[2] с защитными слоями MoSi[2] и ZrSu[2].
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дроздов М. Н., Дроздов Ю. Н., Барышева М. М., Полковников В. Н., Чхало Н. И.
Заглавие : Послойный анализ многослойных металлических структур Pd/B[4]C, Ni/C, Cr/Sc методом ВИМС с использованием кластерных вторичных ионов: проблема повышения разрешения по глубине
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 106-110 (Шифр ranf/2011/75/1)
Примечания : Библиогр.: с. 110 (8 назв. )
УДК : 539.216.2:543.51
ББК : 22.37
Предметные рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Аннотация: Исследуется возможность минимизации матричных эффектов при послойном анализе многослойных металлических структур методом ВИМС, основанная на использовании кластерных вторичных ионов, включающих комбинацию анализируемого элемента и распыляющих ионов цезия либо кислорода.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дроздов М. Н., Востоков Н. В., Данильцев В. М., Демидов Е. В., Дроздов Ю. Н., Хрыкин О. И., Шашкин В. И.
Заглавие : Количественный анализ элементного состава и концентрации электронов в гетероструктурах AlGaN/GaN с двумерным электронным каналом методами ВИМС и C-V-профилирования
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 2. - С.250-254. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2012/76/2). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: с. 254 (11 назв. )
УДК : 539.23:541.51
ББК : 22.37
Предметные рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): c-v-профилирование--вторично-ионная масс-спектрометрия--гетероструктуры algan/gan--двумерные электронные каналы--дельта-легированные гетероструктуры--металлоорганическая газофазная эпитаксия--элементный состав
Аннотация: Проведено исследование элементного состава и концентрации электронов в серии дельта-легированных гетероструктур. Проведено исследование элементного состава и концентрации электронов в серии дельта-легированных гетероструктур Al[X]Ga[1-X]N/GaN с двумерным электронным каналом. Сочетанием методов ВИМС и C-V-профилирования показано разделение электронного канала и легирующей примеси Si. с двумерным электронным каналом. Сочетанием методов ВИМС и C-V-профилирования показано разделение электронного канала и легирующей примеси Si.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Максимов С. Е., Коваленко С. Ф., Тукватуллин О. Ф., Хожиев Ш. Т., Джемилев Н. Х.
Заглавие : Исследования энергий диссоциации кластеров оксидов ниобия и ванадия, синтезированных ионным распылением
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 5. - С.593-597. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2012/76/5). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 597 (15 назв. )
УДК : 537.534.9
ББК : 22.338
Предметные рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): вторично-ионная масс-спектрометрия--каналы фрагментации--кинетические энергии распада--метод столкновительно-индуциронной диссоциации--модель испарительного ансамбля--поверхности металлов--райса-рамспергера-касселя теория мономолекулярных реакций--теория мономолекулярных реакций райса-рамспергера-касселя
Аннотация: Представлены исследования методом вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС) масс-распределений и каналов фрагментации кластеров Nb[n]O{+}[m] и V[n]O{+}[m], распыленных с поверхности металлов ионами Xe{+} при давлении O[2] в камере бомбардировки P = 4-5 х 10{-3} Па. Для наиболее вероятных каналов фрагментации кластеров Nb[n]O{+}[m] и V[n]O{+}[m] измерены спектры кинетических энергий распада, на основе которых определены энергии активации распада (диссоциации) кластеров Nb[n]O{+}[m] и V[n]O{+}[m] в рамках модели “испарительного ансамбля” и теории мономолекулярных реакций. Результаты показали близость численных значений энергий диссоциации, полученных при помощи обеих моделей.
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Литвинов В. А., Коппе В. Т., Бобков В. В.
Заглавие : Исследование взаимодействия водорода с поверхностью геттерного сплава на основе циркония методом ВИМС
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 5. - С.620-625. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2012/76/5). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 624-625 (26 назв. )
УДК : 537.534.8:621.528.5
ББК : 22.338
Предметные рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): водород--вторично-ионная масс-спектрометрия--геттерные сплавы--гидрирование--интерметаллические сплавы--поверхности--температурная зависимость--цирконий
Аннотация: Представлены результаты исследования методом вторичной ионной масс-спектрометрии поверхности геттерного интерметаллического сплава Zr[50]V[50] при остаточном и повышенных парциальных давлениях водорода и при различных температурах.
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Пустовит А. Н., Вяткин А. Ф.
Заглавие : Прецизионное профилирование по глубине структур наноэлектроники с использованием вторичных молекулярных ионов в методе ВИМС
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С.1095-1098. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2012/76/9). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: с. 1098 (8 назв. )
УДК : 537.534 + 620.186
ББК : 22.338 + 30.3
Предметные рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Техника
Материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): ванн-дер-ваальсовое межатомное взаимодействие--вторично-ионная масс-спектрометрия--вторичные молекулярные ионы--наноэлектроника--прецизионное профилирование--разрешающая способность--эффект стенок кратера
Аннотация: Предложен способ улучшения профилирования по глубине метода вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС) с помощью регистрации вторичных молекулярных ионов. Исследования нанометровых структур SiGe и AlGaAs, а также Si, легированного ионами бора с энергией 5 кэВ, показали увеличение разрешения по глубине метода ВИМС при регистрации вторичных молекулярных ионов. Обсуждается физическая модель, согласно которой, определяющим разрешение параметром является энергия диссоциации молекулярных ионов.
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Чернявский А. В.
Заглавие : Измерение диффузионных профилей в ионных кристаллах методом масс-спектрометрии вторичных ионов
Место публикации : Контроль. Диагностика. - 2012. - № 11. - С.72-74. - ISSN 0201-7032 (Шифр kodi/2012/11). - ISSN 0201-7032
Примечания : Библиогр.: с. 74 (11 назв. )
УДК : 543.4/.5
ББК : 24.46/48
Предметные рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диффузионные профили--измерение диффузионных профилей--ионные кристаллы--масс-спектрометрия вторичных ионов--вторично-ионная масс-спектрометрия--высокотемпературная диффузия--диффузия примесей--примесные ионы--диффузионный отжиг
Аннотация: Приведены результаты исследований высокотемпературной диффузии примесей из пленки в приповерхностных слоях ионных кристаллов. Распределение примесей по глубине после диффузионного отжига кристаллов исследовано методом вторичной ионной масс-спектрометрии.
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дроздов М. Н., Клюенков Е. Б., Лопатин А. Я., Лучин В. И., Пестов А. Е., Салащенко Н. Н., Цыбин Н. Н., Чхало Н. И., Шмаенок Л. А.
Заглавие : Сравнительное тестирование свободно висящих многослойных фильтров Mo/ZrSi[2] и Mo/NbSi[2] по термостабильности
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 1. - С.94-96. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2013/77/1). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: с. 96 (5 назв. )
УДК : 544.032
ББК : 24.5
Предметные рубрики: Химия
Физическая химия в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): вторично-ионная масс-спектрометрия--многослойные фильтры--свободно висящие фильтры--термическая стабильность--термически стойкие фильтры--тонкопленочные фильтры--эуф-нанолитографы
Аннотация: Изучена термическая стабильность многослойных тонкопленочных фильтров Mo/ZrSi[2] и Mo/NbSi[2] в температурном интервале 840-940°C при долговременном нагреве в вакууме. До и после лазерного или токового отжига измерялось пропускание фильтра и проводился послойный ВИМС-анализ структуры. Сравнительное тестирование показало, что структура Mo/NbSi[2] менее термостабильна при высоких тепловых нагрузках.
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Бельтюков А. Н., Валеев Р. Г., Романов Э. А., Кривенцов В. В.
Заглавие : Исследование пленок ZnS[x]Se[(1-x)] различного состава методом EXAFS-спектроскопии
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 9. - С.1299-1302. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2013/77/9). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 1302 (8 назв. )
УДК : 549.31 + 539.23 + 539.26
ББК : 26.303 + 22.365 + 22.361
Предметные рубрики: Геология
Минералогия
Физика
Газы и жидкости
Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): exafs-спектроскопия--вторично-ионная масс-спектрометрия--пленки--рентгеновская дифракция--селенид цинка--сульфид цинка--термическое распыление
Аннотация: Методом термического распыления смеси порошков сульфида и селенида цинка в сверхвысоком вакууме получены пленки ZnS[x]Se[ (1-x) ] различного состава (x = 0. 36, 0. 68, 0. 73). Показано, что полученные пленки близки по химическому составу к исходным материалам. Методом рентгеновской дифракции исследована кристаллическая структура пленок. Методом EXAFS-спектроскопии исследовано локальное атомное окружение атомов селена и цинка.
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 02.09.2024
Число запросов	64128
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)