Библиотека Амурского Государственного Университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

БД "Книги"

БД "Статьи"

Труды АМГУ

Выпускные квалификационные работы

Антитеррор

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Микроскопический анализ<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Nazmitdinov R. G., Kvasil J.
Заглавие : Microscopic analysis of wobbing excitations in {156}Dy and {162}Yb
Серия: Ядра, частицы, поля, гравитация и астрофизика
Место публикации : Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 132, вып: вып. 5. - С. С. 1100-1120 (Шифр zhtf/2007/132/5)
Примечания : Библиогр.: с. 1120
УДК : 530.1
ББК : 22.31
Предметные рубрики: Физика
Теоретическая физика
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Лукьянов К. В., Земляная Е. В., Лукьянов В. К., Кухтина И. Н., Пенионжкевич Ю. Э., Соболев Ю. Г.
Заглавие : Микроскопический анализ энергетической зависимости полных сечений реакций {6}He, {6}Li + {28}Si в диапазоне Е= (5-50) А. МэВ
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 3. - С. С. 382-386 (Шифр ranf/2008/72/3)
Примечания : Библиогр.: c. 386 (16 назв. )
УДК : 539.17.01
ББК : 22.38
Предметные рубрики: Физика
Ядерная физика в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): энергетическая зависимость--микроскопический анализ--полные сечения реакций--двойной фолдинг--экспериментальные данные--кулоновский потенциал--полумикроскопические потенциалы--нуклон-нуклонные силы
Аннотация: Представлены экспериментальные данные полных сечений реакций {6}He, {6}Li + {28}Si в диапазоне Е= (5-50) А. МэВ.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Гуторов К. М., Визгалов И. В., Маркина Е. А., Курнаев В. А.
Заглавие : Влияние тонких диэлектрических пленок на электронную эмиссию и устойчивость плазмо-поверхностного контакта
Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74. N 2. - С.208-211: Рис. - ISSN 0367-6765 (Шифр ranf/2010/74/2). - ISSN 0367-6765
Примечания : Библиогр.: c. 211 (7 назв. )
УДК : 538.971
ББК : 22.3
Предметные рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Аннотация: Приведены результаты микроскопического анализа диэлектрических пленок на поверхности контактирующих с плазмой электродов. Показано, что тонкие пленки (4-10 нм) вызывают неустойчивости протекания тока и приводят к самовозбуждению колебаний в плазме, а толстые пленки (более 50 нм) подвержены пробоям, сопровождающимся испарением материала пленки.
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 10.09.2024
Число запросов	40863
Число посетителей	1
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)