Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Микроскопический анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Nazmitdinov R. G. Microscopic analysis of wobbing excitations in {156}Dy and {162}Yb/R. G. Nazmitdinov, J. Kvasil // Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2007. т.Т. 132, вып:вып. 5.-С.С. 1100-1120
2.

Микроскопический анализ энергетической зависимости полных сечений реакций {6}He, {6}Li + {28}Si в диапазоне Е= (5-50) А. МэВ/К. В. Лукьянов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая, 2008. т.Т. 72,N N 3.-С.С. 382-386
3.

Влияние тонких диэлектрических пленок на электронную эмиссию и устойчивость плазмо-поверхностного контакта/К. М. Гуторов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая, 2010. Т. 74. N 2.-С.208-211
 
Статистика
за 05.08.2024
Число запросов 2500
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)