Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Статьи" - результаты поиска

Вид поиска
БД "Книги"
БД "Статьи"
Труды АМГУ
Выпускные квалификационные работы
Антитеррор
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Гнесин, Б. А.$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Гнесин Б. А., Поддубняк В. Я., Бурумкулов Ф. Х., Иванов В. И., Борисенко Е. Б., Гнесин И. Б.
Заглавие : Электроискровое легирование поверхности на углеродистых сталях и чугуне с помощью электродов из силицидов молибдена и вольфрама
Серия: Современные технологии
Место публикации : Материаловедение. - 2007. - N 7. - С. 41-54 (Шифр mtrl/2007/7)
ISSN: 1684-579Х
УДК : 669 + 620.1/.2 + 539.2 + 669.27 + 620.1 + 539.26
ББК : 34.3 + 30.3 + 22.37
Предметные рубрики: Машиностроение-- Металлургия. Металлы и сплавы
Техника-- Материаловедение
Физика-- Физика твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электроискровое легирование--углеродистые стали--чугун--сталь--силициды молибдена--вольфрам--молибден--микротвердость--твердосплавные электроды--карбиды быстрорежущей стали--порошковая металлургия--чугунные изложницы--медь никель--вакуумная разливка расплавов
Аннотация: Исследованы составы, структуры и распределения микротвердости покрытий на углеродистых сталях и чугуне, созданных с помощью электроискрового легирования.
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Гнесин И. Б., Гнесин Б. А., Некрасов А. Н.
Заглавие : Исследование влияния примеси углерода на микротвердость, химический и фазовый составы двойных силицидных эвтектик Me[5]Si[3]-MeSi[2] системы Mo-W-Si на литых образцах
Серия: Материалы XXI века
Место публикации : Материаловедение. - 2008. - N 8. - С. С. 21-29 (Шифр mtrl/2008/8)
УДК : 669.017
ББК : 34.2
Предметные рубрики: Технология металлов
Металловедение в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): углерод--микротвердость сплавов--двойные силицидные эвтектики--тугоплавкие металлы--мелкодисперсный карбид кремния--силициды--молибден--вольфрам
Аннотация: Исследованы сплавы, соответствующие линии двойных эвтектик системы Mo-W-Si, с различным соотношением W и Mo, различающиеся по условиям получения концентраций примеси углерода.
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Гнесин Б. А., Гнесин И. Б.
Заглавие : Исследование влияния примеси углерода в литых силицидных эвтектиках Me[5]Si[3]-MeSi[2] системы Mo-W-Si с помощью рентгеновских методов
Серия: Материалы XXI века
Место публикации : Материаловедение. - 2009. - N 1. - С. 14-23 (Шифр mtrl/2009/1)
УДК : 620.1/.2
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Техника
Материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): углерод--силициды--молибден--вольфрам--силициды твердых растворов--композиционные материалы--защитные покрытия--плавление силицидов--двойные силицидные эвтектики
Аннотация: С увеличением содержания углерода линии гексагональных фаз заметны и при 100% (ат. ) относительного содержания W в силицидах. В более чистых по углероду образцах фаза Новотного при 100% (ат. ) относительного содержания W не выявлена.
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Гнесин Б. А., Гнесин И. Б., Фролова Е. А.
Заглавие : Сравнение элементного состава с помощью масс-спектроскопии вторичных ионов образцов силицидных эвтектик (Mo, W) [5]Si[3] + (Mo, W) Si[2]
Серия: Методы анализа и испытаний материалов
Место публикации : Материаловедение. - 2010. - N 11. - С. 18-27 (Шифр mtrl/2010/11)
УДК : 546 + 543.4/.5
ББК : 24.12 + 24.46/48
Предметные рубрики: Химия
Химические элементы и их соединения
Физико-химические методы анализа
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): эвтектики--силицидные эвтектики--двойные силицидные эвтектики--молибден--вольфрам--силициды--углерод в силицидах--анализ содержания примесей--масс-спектроскопия--вторичные ионы--масс-спектроскопия вторичных ионов--алмазные порошки--изотопы--поликристаллы--примеси
Аннотация: Метод масс-спектроскопии вторичных ионов (SIMS) потенциально пригоден для анализа малых концентраций примесей таких элементов, как H, B, C, O, N, F. Принципиальной проблемой метода SIMS является трудность получения количественных данных о реальных концентрациях.
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 12.09.2024
Число запросов 31746
Число посетителей 1
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)