Быков, В. А. Уменьшение влияния температурного дрейфа в сканирующих зондовых микроскопах [Текст] / В. А. Быков, Е. В. Кузнецов, Е. С. Пьянков // Известия вузов. Электроника. - 2010. - N 5. - С. 58-63. : рис. - Библиогр.: с. 62-63 (3 назв. )
Рубрики: Вычислительная техника Вычислительная техника в целом Кл.слова (ненормированные): термодрейф -- термоконтроллер -- термостабилизация -- сканирующая зондовая микроскопия Аннотация: Исследованы особенности термостабилизации устройств сканирующей зондовой микроскопии. Доп.точки доступа: Кузнецов, Е. В.; Пьянков, Е. С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |