Лебедев, А. В. Методика функционального тестирования СБИС микроконтроллеров и микропроцессов при проведении радиационных испытаний [Текст] / А. В. Лебедев, И. И. Шагурин // Инженерная физика. - 2008. - N 2. - С. 49-55
Рубрики: Приборостроение Испытание и контроль приборов Кл.слова (ненормированные): микроконтроллеры -- микропроцессоры -- испытания образцов -- функциональное тестирование -- радиационные испытания -- электронная аппаратура Аннотация: Разработана методика испытаний на радиационную стойкость микроконтроллеров и микропроцессоров, обеспечивающих проверку функционирования основных функциональных блоков и выявление их отказов. Данная методика использована для испытания образцов 8-разрядных микроконтроллеров AT89S8252, PIC16C774, ATmega128. Доп.точки доступа: Шагурин, И. И. |