Воздействие ионного облучения на процесс нанокристаллизации и изменение рельефа поверхности ленты сплава Fe[72.5]Cu[1]Nb[2]Mo[1.5]Si[14]B[9] [Текст] / И. Ю. Романов [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 10. - С. 157-165 : рис., табл. - Библиогр.: c. 164-165 (24 назв. ) . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- ионное облучение -- кристаллизации аморфного сплава -- магнитомягкие сплавы -- нанокристаллическая структура -- наноструктурированные материалы -- обработка материалов -- рентгеновская дифракция
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и атомно-силовой микроскопии исследован процесс кристаллизации аморфного сплава Fe[72. 5]Cu[1]Nb[2]Mo[1. 5]Si[14]B[9] под воздействием ускоренных ионов Ar+. Установлено, что облучение ионами Ar{+} с энергией 30 кэВ при плотности ионного тока 300 мкА/см{2} (флюенс 3. 75·10{15} см{-2}; время облучения ~ 2 с; кратковременный нагрев ионным пучком до 350 °С, что на 150 °С ниже термического порога кристаллизации) приводит к полной кристаллизации аморфного сплава (во всем объеме ленты толщиной 25 мкм) с выделением кристаллов твердого раствора альфа-Fe (Si), близкого по составу к Fe[80]Si[20], стабильной фазы Fe[3]Si и метастабильных гексагональных фаз. Методами атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии показано, что вызванная облучением нанокристаллизация сопровождается изменением рельефа как с облученной, так и с необлученной сторон ленты сплава Fe[72. 5]Cu[1]Nb[2]Mo[1. 5]Si[14]B[9] на глубине, превышающей на фактор более чем 10{3} глубину физического проникновения ионов в данный материал. Полученные данные, с учетом существенного снижения температуры и многократного ускорения процесса кристаллизации, являются доказательством радиационно-динамического воздействия ускоренных ионов на метастабильную аморфную среду.


Доп.точки доступа:
Романов, И. Ю.; Гущина, Н. В.; Овчинников, В. В.; Махинько, Ф. Ф.; Степанов, А. В.; Медведев, А. И.; Стародубцев, Ю. Н.; Белозеров, В. Я.; Логинов, Б. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)