Михайлов, М. М.     Спектры диффузного отражения в ближней ИК-области как метод анализа поверхности порошков ZhO, модифицированных наночастицами [Текст] / М. М. Михайлов, В. В. Нещименко // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - № 8. - С. 88-94 РУБ ВАК Доп.точки доступа: Нещименко, В. В.