22.37 Б 24 Барабаш, Татьяна Константиновна. Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии [Электронный ресурс] : моногр. / Т. К. Барабаш, А. Г. Масловская ; АмГУ, ФМиИ. - Благовещенск : Изд-во Амур. гос. ун-та, 2016. - 149 с. : рис. - Библиогр. : с. 138 . - ISBN 978-5-93493-271-9 : Б. ц. Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрические материалы -- растровая электронная микроскопия -- доменные структуры -- самоподобие РЭМ-изображений -- электронное облучение -- процессы переключения поляризации сегнетоэлектриков Перейти: http://irbis.amursu.ru/DigitalLibrary/AmurSU_Edition/7405.pdf Доп.точки доступа: Масловская, Анна Геннадьевна; Амурский государственный университет. Факультет математики и информатики Экземпляры всего: 1 эл. б-ка АмГУ (1) Свободны: эл. б-ка АмГУ (1) |