22.33 С 74 Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] / под ред.: Нан Яо, Чжун Лин Ван. - М. : Науч. мир, 2011. - 712 с. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники). - Предм. указ.: с. 702. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 2000.00 р. Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): оптическая микроскопия -- ионная микроскопия -- нанотехнология -- сканирующая оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- термоэлектрическая микроскопия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- нанокристаллические материалы -- электронная нанокристаллография -- электронная голография Доп.точки доступа: Нан Яо \ред.\; Чжун Лин Ван \ред.\ Экземпляры всего: 1 н.з. (1) Свободны: н.з. (1) |