Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Овчинников С. В., Коротаев А. Д., Пинжин Ю. П., Борисов Д. П. Заглавие : Особенности структурно-фазовых превращений при отжигах легированных покрытий на основе нитрида титана Серия: Физика конденсированного состояния Место публикации : Известия вузов. Физика. - 2012. - Т. 55, № 12. - С.75-86: рис., табл. - ISSN 0021-3411 (Шифр izph/2012/55/12). - ISSN 0021-3411 Примечания : Библиогр.: c. 85-86 (28 назв. ) УДК : 539.2 ББК : 22.37 Предметные рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): изгиб-кручение решетки--легированные покрытия--нанокристаллические покрытия--отжиг легированных покрытий--плотность структурных дефектов--структурно-фазовые превращения--субмикрокристаллические покрытия--термостабильность покрытий--упругонапряженное состояние--электронная микроскопия Аннотация: С использованием методики электронно-микроскопического темнопольного анализа изгиба-кручения кристаллической решетки и измерения микротвердости выполнено исследование изменения структурно-фазового состояния и свойств покрытий на основе нитрида титана в процессе отжигов в вакууме до температуры 1573 К. Показано, что в покрытиях с субмикронными зернами, фрагментированными на наноразмерные субзёрна, определяющее значение для повышения твердости имеют величины локальных остаточных упругих напряжений, связанных с упругопластическим изгибом кристаллической решетки в областях избыточной плотности дислокаций одного знака либо зернограничными концентраторами напряжений. Определено, что в таких покрытиях при высоких температурах ( 1373 К) отжига огрубление зерен и возврат внутризёренной дефектной структуры развивается неоднородно с сохранением высоких значений плотности образующих ее дислокаций и малоугловых границ при невысокой кривизне решетки. При отжигах нанокристаллических покрытий установлено определяющее влияние интенсивности выделения частиц вторых фаз на основе легирующих элементов на твердость, характеристики структурного состояния и уровень локальных напряжений, нанокристаллов нитрида TiN. Доп.точки доступа: Овчинников, С. В.; Коротаев, А. Д.; Пинжин, Ю. П.; Борисов, Д. П.