Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Ахсахалян А. А., Ахсахалян А. Д., Зорина М. В., Харитонов А. И. Заглавие : Методика измерений формы поверхности вращения на интерференционном микроскопе "Talysurf CCI 2000" Место публикации : Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 102-105 (Шифр ranf/2011/75/1) Примечания : Библиогр.: c. 105 (3 назв. ) УДК : 621.793.164 ББК : 34.64 Предметные рубрики: Машиностроение Соединения деталей машин Аннотация: Представлена методика измерений формы поверхности эллипсоида вращения на сканирующем интерференционном микроскопе белого света "Talysurf CCI 2000". Доп.точки доступа: Ахсахалян, А. А.; Ахсахалян, А. Д.; Зорина, М. В.; Харитонов, А. И.