Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Тетерин А. Ю., Тетерин Ю. А., Маслаков К. И., Яржемский В. Г., Сверчков С. Е., Денкер Б. И., Галаган Б. И., Исхакова Л. Д., Булатов Л. И., Двойрин В. В., Машинский В. М., Умников А. А., Гурьянов А. Н., Нефедов В. И., Дианов Е. М. Заглавие : Рентгеноэлектронное исследование зарядового состояния атомов Bi и Al в стеклах, люминесцирующих в инфракрасной области Серия: Физика Место публикации : Доклады Академии наук. - 2008. - Т. 423, N 2, ноябрь. - С.185-189: 6 табл. - ISSN 0869-5652 (Шифр dran/2008/423/2). - ISSN 0869-5652 Примечания : Библиогр.: с. 189 (14 назв. ) УДК : 539.1 ББК : 22.38 Предметные рубрики: Физика Ядерная физика в целом Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеноэлекторонное исследование--зарядовое состояние атома--рентгеноэлектронная спектроскопия--широкополосная люминесценция--состояние атомов в стеклах--инфракрасные области Аннотация: Использован метод рентгеноэлектронной спектроскопии (РЭС), позволяющий определять зарядовое состояние всех атомов, в первую очередь состояние атома Bi, о степени окисления которого в литературе можно найти противоречивые сведения. Доп.точки доступа: Тетерин, А. Ю.; Тетерин, Ю. А.; Маслаков, К. И.; Яржемский, В. Г.; Сверчков, С. Е.; Денкер, Б. И.; Галаган, Б. И.; Исхакова, Л. Д.; Булатов, Л. И.; Двойрин, В. В.; Машинский, В. М.; Умников, А. А.; Гурьянов, А. Н.; Нефедов, В. И.; Дианов, Е. М.