Низкоразмерные наноструктуры и пленки фуллеренов на поверхности полупроводников [Текст] / Р. З. Бахтизин [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 1. - С. 36-39. : Рис. - Библиогр.: c. 39 (8 назв. )
Рубрики: Энергетика Электротехника в целом Кл.слова (ненормированные): туннельная микроскопия -- микроскопия медленных электронов -- доменные границы -- сверхвысокий вакуум -- низкоразмерные наноструктуры -- фуллерены -- фторфуллерены -- туннельные спектры -- отжиг Аннотация: Методами сканирующей туннельной микроскопии/спектроскопии и микроскопии медленных электронов в условиях сверхвысокого вакуума исследованы морфология и атомная структура пленок фуллеренов C[60] на поверхности Bi (0001) /Si (111) -7x7 и адсорбция молекул фторфуллеренов C[60]F[x] Si (111) -7x7. Доп.точки доступа: Бахтизин, Р. З.; Орешкин, А. И.; Садовский, Ю. Т.; Фуджикава, Я.; Сакурай, Т. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |