Методы эллипсометрического анализа поляризационно-оптических свойств неоднородных поверхностных слоев элементов оптоэлектроники [Текст] / В. С. Землянский [и др. ] // Оптика и спектроскопия. - 2008. - Т. 105, N 2. - С. 346-351.
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): поляризационно-оптические свойства -- неоднородные поверхностные слои -- оптоэлектроника -- эллипсометрический анализ -- теория Друде-Борна -- Друде-Борна теория -- отражение поляризованного света Аннотация: На основе теорий отражения поляризованного света Друде-Борна описаны основные закономерности изменения основных эллипсометрических параметров отраженного светового пучка от неоднородных поверхностных слоев силикатных стекол. Изложен метод физико-математического моделирования профиля показателя преломления неоднородного поверхностного слоя силикатных стекол, позволяющий при наименьшей вероятности ошибки второго рода определять модель неоднородной отражающей системы, адекватной объекту исследования. Доп.точки доступа: Землянский, В. С.; Храмцовский, И. А.; Горляк, А. Н.; Степанчук, А. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |