Ермишкин, В. А. Система фотометрического анализа структурных изображений и ее применение для исследования материалов в условиях усталости [Текст] / В. А. Ермишкин, Д. П. Мурат, В. В. Подбельский // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - 2008. - N 10. - С. 38-44. : 11рис. - Библиогр.: с. 44 (14 назв. )
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): системы фотометрического анализа -- структурные изображения -- исследование материалов -- условия усталости -- конструкционные материалы -- фотометрический анализ Аннотация: Разработанный информационно-аналитический комплекс для фотометрического анализа структурных изображений используется для описания поведения конструкционных материалов под нагрузкой. Доп.точки доступа: Мурат, Д. П.; Подбельский, В. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : з.п. (1) Свободны: з.п. (1) |