XPS-исследования нанослоев оксидов олова [Текст] / Э. П. Домашевская [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 4. - С. 536-541. - Библиогр.: c. 541 (13 назв. )
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): XPS-исследования -- оксиды олова -- фотоэлектронные спектры XPS -- нанослои -- отжиг -- электронная структура -- металлические пленки -- энергетические характеристики Аннотация: Цель работы - выявление особенностей электронной структуры недопированных и допированных нанослоев SnO[x], полученных окислением на воздухе металлических пленок олова, на основе синхротронных фотоэлектронных спектров XPS. Доп.точки доступа: Домашевская, Э. П.; Рябцев, С. В.; Турищев, С. Ю.; Кашкаров, В. М.; Чувенкова, О. А.; Юраков, Ю. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |