A Systematic Methodology for the Analysis of Multicomponent Photoreflectance Spectra Applied to GaAsBi|GaAs Structure [Text] / I. Guizani, H. Fitouri, I. Zaied, A. Rebey // Физика твердого тела. - 2020. - Т. 62, вып. 6. - С. 941 . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): GaAsBi -- многокомпонентность -- фазовый анализ -- фотоотражение Аннотация: Многокомпонентные отклики спектра фотоотражения экспериментально исследованы с помощью селективного фазового анализа. Доп.точки доступа: Guizani, I.; Fitouri, H.; Zaied, I.; Rebey, A. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : н.з. (1) Свободны: н.з. (1) |