Ближний порядок в аморфном и кристаллическом сегнетоэлектрическом Hf[0.5]Zr[0.5]O[2] [Текст] / С. Б. Эренбург [и др.] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2018. - Т. 153, вып. 6. - С. 982-991. - Библиогр. в конце статьи . - ISSN 0044-4510
Рубрики: Физика Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): EXAFS-спектры -- аморфные пленки -- пленки -- поликристаллические пленки -- рентгеновская спектроскопия -- синтез пленок -- эллипсометрические измерения Аннотация: Методами рентгеновской спектроскопии и эллипсометрии исследована микроструктура аморфных и поликристаллических сегнетоэлектрических пленок Hf[0. 5]Zr[0. 5]O[2]. Доп.точки доступа: Эренбург, С. Б.; Трубина, С. В.; Квашнина, К. О.; Кручинин, В. Н.; Гриценко, В. В.; Черникова, А. Г.; Маркеев, А. М. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |