Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоями [Текст] / Х. Хашим [и др.] // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 11. - С. 2191-2195 : 7 рис. - Библиогр. в конце ст. (19 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел--Россия--Нижний Новгород, 2017 г. Кл.слова (ненормированные): магнитооптика -- наноразмерные пленки -- ситалловая подложка -- спектральная эллипсометрия -- ферромагнитные слои -- эллипсометрия Аннотация: С помощью методов эллипсометрии были исследованы оптические и структурные параметры многослойных пленок на ситалловой подложке. Доп.точки доступа: Хашим, Х.; Сингх, С. П.; Панина, Л. В.; Пудонин, Ф. А.; Шерстнев, И. А.; Подгорная, С. В.; Шпетный, И. А.; Беклемишева, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |