Кузьмин, М. В. Исследование валентного перехода в системе O[2]-Yb-Si(111) с помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением [Текст] / М. В. Кузьмин, М. А. Митцев // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 10. - С. 2032-2036 : 4 рис. - Библиогр. в конце ст. (14 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): валентный переход -- иттербий -- кристаллография в целом -- нанопленки иттербия -- спектроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия Аннотация: Получены данные о распределение двух- и трехвалентных ионов в нанопленках иттербия в случае, когда адсорбированный слой молекул на их поверхности еще не полностью сформирован и валентный переход Yb{2+} - Yb{3+} не завершен. Доп.точки доступа: Митцев, М. А. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |