Даньшина, В. В. Сравнительный анализ толщины и электрической проводимости тонких халькогенидных полупроводниковых пленок [Текст] / В. В. Даньшина, Л. Ф. Калистратова // Физика твердого тела. - 2017. - Т. 59, вып. 1. - С. 172-175 : 2 рис., 5 табл. - Библиогр. в конце ст. (7 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): кадмий -- кристаллография в целом -- полупроводниковые пленки -- тонкие пленки -- халькогенидные полупроводниковые пленки -- цинк -- электрическая проводимость Аннотация: Проведено рентгенографическое исследование структуры и толщины полупроводниковых пленок халькогенидов цинка и кадмия. Доп.точки доступа: Калистратова, Л. Ф. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |