Кютт, Р. Н. О роли вторичной экстинкции при измерении интегральной интенсивности рентгенодифракционных пиков и определении толщины нарушенных эпитаксиальных слоев [Текст] / Р. Н. Кютт // Физика твердого тела. - 2016. - Т. 58, вып. 6. - С. 1058-1064 : 4 рис., 2 табл. - Библиогр. в конце ст. (18 назв.) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): вторичная экстинкция -- нарушенные эпитаксиальные слои -- рентгенодифракционные пики -- экстинкция -- эпитаксиальные слои Аннотация: Измерены интегральные интенсивности рентгенодифракционных отражений для серии эпитаксиальных слоев AIII-нитридов (GaN, AlN, AlGaN), выращенных на разных подложках и имеющих разную степень структурного совершенства. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |