Ляпин, А.
    Визуализация тонких структур – современные технологии [Текст] / А. Ляпин // Электроника: наука, технология, бизнес. - 2015. - № 4. - С. 140-146 . - ISSN 1992-4178
УДК
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
визуализация -- визуальный контроль -- механические структуры -- микроскопия -- тонкие структуры -- электронные структуры
Аннотация: О возможностях и особенностях различных широко используемых методов микроскопии для визуального контроля тонких электронных и механических структур, как в процессе производства, так и при отработке технологий, рассказывается в статье.


Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : эн.ф. (1)
Свободны: эн.ф. (1)