Булаев, И. Ю. Применение метода критического напряжения питания для отбраковки потенциально ненадежных микросхем [Текст] / И. Ю. Булаев // Контроль. Диагностика. - 2015. - № 4. - С. 56-60. - Библиогр.: с. 60 (2 назв. ) . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): внутренние дефекты -- выявление дефектов -- дефекты микросхем -- диагностический контроль -- испытания микросхем -- критическое напряжение питания -- метод критического напряжения питания -- микросхемы -- неразрушающий контроль -- отбраковка изделий -- паразитные сопротивления -- потенциально ненадежные микросхемы -- скрытые дефекты -- электронная компонентная база Аннотация: Внутренние дефекты современных микросхем иногда невозможно обнаружить с помощью обычного функционального или параметрического контроля. Рассматриваются различные методы диагностического неразрушающего контроля, приводятся их достоинства и недостатки. Описан метод критического напряжения питания для поиска скрытых дефектов внутри современных микросхем. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |