Оптические исследования ультратонких пленок Al[2]O[3], выращенных на подложках GaAs(100) [Текст] / П. В. Середин [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2015. - Т. 79, № 2. - С. 246-249. - Библиогр.: c. 249 (22 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Электрический ток Кл.слова (ненормированные): ИК-спектроскопия -- УФ-спектроскопия -- оптические свойства -- пленки оксида алюминия -- структурные свойства -- ультратонкие пленки Аннотация: Методами ИК- и УФ-спектроскопии изучены оптические и структурные свойства ультратонких пленок оксида алюминия, полученных на подложках GaAs (100). Экспериментально показано, что изготовленные таким образом пленки хорошо пропускают оптическое излучение в ИК-, видимом и ультрафиолетовом диапазонах, и потенциально значимы для создания на их основе просветляющих покрытий зеркал мощных полупроводниковых лазеров на основе A[III]B[V]. Доп.точки доступа: Середин, П. В.; Голощапов, Д. Л.; Лукин, А. Н.; Арсентьев, И. Н.; Тарасов, И. С. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |