Диффузия и деформации в гетеросистемах со сверхрешетками GaN/AlN по данным EXAFS спектроскопии [Текст] / С. Б. Эренбург [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2013. - Т. 77, № 9. - С. 1312-1316. - Библиогр.: c. 1316 (14 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Химия Химическая связь и строение молекул Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): EXAFS-спектроскопия -- GaN/AlN-сверхрешетки -- аммиачная МЛЭ -- квантовые ямы -- малоугловое рассеяние -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- электронная микроскопия высокого разрешения Аннотация: Методом аммиачной МЛЭ синтезированы многослойные образцы с предельно узкими квантовыми ямами GaN в матрице AlN. С использованием метода EXAFS-спектроскопии, электронной микроскопии высокого разрешения, малоуглового рассеяния определены параметры микроструктуры, установлена их связь с морфологией GaN/AlN-сверхрешеток. Обнаружено влияние условий роста и толщины сверхрешеток на перемешивание в приграничных слоях и оптические свойства. Доп.точки доступа: Эренбург, С. Б.; Трубина, С. В.; Журавлев, К. С.; Малин, Т. В.; Печ, Б. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |