Влияние толщины наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на характеристики гистерезиса МДМ-структур [Текст] / Ю. В. Подгорный [и др.] // Наноматериалы и наноструктуры - XXI век. - 2012. - Т. 3, № 3. - С. 16-20 : рис. - Библиогр.: c. 19-20 (12 назв. ) . - ISSN 2225-0999
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Технология металлов Электротехника в целом Энергетика Металловедение в целом Кл.слова (ненормированные): МДМ-структуры -- гистерезис МДМ-структур -- золь-гель метод -- коэрцивное поле -- наноразмерные пленки -- наноразмерные эффекты -- пленки цирконата-титана свинца -- поляризация -- сегнетоэлектрические пленки -- толщина наноразмерных пленок Аннотация: Исследования показали, что при уменьшении толщины сегнетоэлектрических пленок в структурах металл/сегнетоэлектрик/металл уменьшаются остаточная поляризация и крутизна петель диэлектрического гистерезиса, в тоже время напряженность коэрцитивного поля возрастает. Экспериментальные результаты находятся в хорошей корреляции с моделью нарушенного слоя на поверхности раздела электрод/пленка ЦТС. Доп.точки доступа: Подгорный, Ю. В.; Воротилов, К. А.; Ланцев, А. Н.; Серегин, Д. С.; Сигов, А. С. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |