Системное описание структуры наноматериалов [Текст] / А. Г. Колмаков [и др.] // Материаловедение. - 2012. - № 9. - С. 37-45 . - ISSN 1684-579Х
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): наноматериалы -- мультифрактальный анализ -- вейвлет-анализ -- физико-химический анализ -- структура наноматериалов -- системный подход Аннотация: Использование системных подходов обеспечивает существенное развитие традиционных методов материаловедения и их эффективное применение для объектов, имеющих сложную многомасштабную структуру, в том числе и для наноструктурных материалов. Показано применение мультифрактального, вейвлет-анализа и многомасштабного физико-химического анализа для качественного и количественного описания структур материалов, позволяющее выявить плохо различимые другими отдельными методами отличия, оценены системные характеристики структур материалов и охарактеризованы процессы самоорганизации в структурах. Доп.точки доступа: Колмаков, А. Г.; Солнцев, К. А.; Витязь, П. А.; Ильющенко, А. Ф.; Хейфец, М. Л.; Баринов, С. М. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |