Структурные дефекты на поверхности 1T-TiSe[2]: эксперимент и модельные расчеты фотоэлектронной дифракции [Текст] / А. С. Разинкин [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1166-1169 : рис. - Библиогр.: c. 1169 (5 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Химия Химия твердого тела Кл.слова (ненормированные): EDAC-код -- дифракционные картины -- дихалькогениды -- моделирование -- рентгеновская фотоэлектронная дифракция -- СТМ-микроскопия -- структурные дефекты -- точечные дефекты Аннотация: Методами СТМ-микроскопии и рентгеновской фотоэлектронной дифракции (РФД) изучена поверхность 1T-TiSe[2]. Проведено моделирование дифракционных картин в приближении многократного рассеяния электронов в рамках EDAC-кода. Рассмотрены варианты точечных и структурных дефектов на поверхности 1T-TiSe[2]. Сопоставление экспериментальных и теоретических РФД-картин выполнено на основе анализа R-фактора их сходимости. Доп.точки доступа: Разинкин, А. С.; Огородников, И. И.; Титов, А. Н.; Кузнецов, М. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |