Влияние электронного облучения на фториды щелочно-земельных элементов (CaF[2], SrF[2] и BaF[2]) [Текст] / В. И. Николайчик [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1143-1148. - Библиогр.: c. 1148 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): десорбция фтора -- дифракционный анализ -- радиационные дефекты -- фториды щелочно-земельных элементов -- электронное облучение -- электронные пучки -- элементный анализ Аннотация: С использованием элементного и дифракционного анализа изучено влияние электронного облучения в колонне просвечивающего электронного микроскопа на фториды щелочно-земельных элементов CaF[2], SrF[2] и BaF[2]. Установлено, что при превышении плотности тока электронного пучка выше порогового значения наблюдаются десорбция фтора и связывание высвобождающихся ионов металла кислородом остаточного вакуума в оксидную фазу МеО (Ме = Ca, Sr, Ba), имеющую структуру каменной соли NaCl. Доп.точки доступа: Николайчик, В. И.; Соболев, Б. П.; Запорожец, М. А.; Авилов, А. С. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |