Кузьменков, А. В. Возможности метода катодолюминесценции в РЭМ для исследования распределения и определения типов пробоев стеклянных изоляторов [Текст] / А. В. Кузьменков, П. В. Иванников, А. И. Габельченко // Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - Т. 76, № 9. - С. 1090-1094. - Библиогр.: c. 1094 (11 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): вторично-эмиссионные методы -- дефекты диэлектриков -- емкостные методы -- катодолюминесценция -- обратно отраженные электроны -- пробои стеклянных изоляторов -- растровый электронный микроскоп -- стеклянные диэлектрики Аннотация: Проведено сравнение метода регистрации пробоев диэлектрика по сигналу катодолюминесценции в РЭМ как с емкостными, так и со вторично-эмиссионными методами. На исследованных образцах стеклянных диэлектриков обнаружены пробои двух типов: поверхностные и эмиссионные. Обсуждаются возможности метода катодолюминесценции для выявления и локализации дефектов диэлектриков, понижающих напряжение пробоя. Доп.точки доступа: Иванников, П. В.; Габельченко, А. И. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |