Прочность поликристаллического CVD-алмаза оптического качества [Текст] / В. Г. Ральченко [и др.]> // Перспективные материалы. - 2011. - № 3. - С. 33-39. - Библиогр.: с. 38-39 (15 назв. ) . - ISSN 1028-978Х
Рубрики: Техника Сопротивление материалов Кл.слова (ненормированные): CVD-алмаз -- поликристаллический алмаз -- прочность на изгиб -- модуль Юнга -- Юнга модуль -- модуль Вейбулла -- Вейбулла модуль Аннотация: Трехточечным квазистатическим методом измерена прочность на изгиб сигма-f пластин поликристаллического CVD-алмаза толщиной h = 0, 06 – 1, 0 мм. Образцы оптического качества, выращенные в сверхвысокочастотной (СВЧ) плазме на Si-подложках в смесях CH[4] – H[2], являются структурно неоднородным материалом, в котором размер кристаллитов может отличаться (увеличиваться) на 1 – 2 порядка при переходе от подложечной к ростовой стороне. Доп.точки доступа: Ральченко, В. Г.; Плейлер, Э.; Совык, Д. Н.; Конов, В. И. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |