Журавлев, В. А. Повышение чувствительности и точности квазиоптических методов измерения электромагнитного отклика в миллиметровом диапазоне длин волн [Текст] / В. А. Журавлев, В. И. Сусляев, Ю. П. Землянухин // Известия вузов. Физика. - 2011. - Т. 54, № 7. - С. 92-93. - Библиогр.: c. 93 (1 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Геофизика Метеорология Кл.слова (ненормированные): диэлектрическая проницаемость -- квазиоптический метод -- микроволновый диапазон -- электромагнитный отклик Аннотация: Перспективным способом исследования материальных параметров и электромагнитных свойств листовых материалов в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн является квазиоптический метод. Измеряемыми величинами являются комплексные коэффициенты отражения (R) и прохождения (T), которые зависят от толщины слоя магнитодиэлектрика (d) и значений комплексных магнитной µ=µ`-iµ``и диэлектрической е =e`-ie`` проницаемостей. Предложенная методика обработки результатов эксперимента повышает точность измерений электромагнитного отклика и диэлектрической проницаемости листовых материалов квазиоптическим методом. Доп.точки доступа: Сусляев, В. И.; Землянухин, Ю. П. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |