Применение сканирующей туннельной микроскопии для характеристики зеренно-субзеренной структуры СМК никеля после низкотемпературного отжига [Текст] / П. В. Кузнецов [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 4. - С. 26-34. - Библиогр.: с. 34 (29 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Материаловедение Сопротивление материалов Кл.слова (ненормированные): сканирующая туннельная микроскопия -- туннельная микроскопия -- зеренно-субзеренная структура -- субмикрокристаллические материалы -- субмикрокристаллический никель -- низкотемпературный отжиг -- равноканальное угловое прессование -- границы зерен -- микротвердость Аннотация: Представлен метод оценки распределения зеренно-субзеренной структуры субмикрокристаллических простых металлов по размерам и оценке степени неравновесности их границ после низкотемпературного отжига с помощью сканирующей туннельной микроскопии. Доп.точки доступа: Кузнецов, П. В.; Петракова, И. В.; Рахматуллина, Т. В.; Батурин, А. А.; Корзников, А. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |