Беляков, А. Н. Анализ искажений кристаллической решетки сильнодеформированных металлических материалов с помощью просвечивающей электронной микроскопии [Текст] / А. Н. Беляков, М. С. Тихонова, Р. О. Кайбышев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1: № 1, № 1. - С. 55-58. - Библиогр.: с. 58 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Сопротивление материалов Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): искажения кристаллической решетки -- кристаллические решетки -- сильнодеформированные металлические материалы -- металлические материалы -- просвечивающая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопия -- микронапряжения -- дифракция Кикучи -- Кикучи дифракция -- субмикрокристаллические материалы -- рентгеноструктурный анализ Аннотация: Описан способ определения локальных искажений кристаллической решетки с помощью дифракции Кикучи в сходящемся электронном пучке. Показана возможность определения искривлений решетки внутри отдельных кристаллитов в субмикрокристаллических материалах, полученных методами интенсивной пластической деформации. Доп.точки доступа: Тихонова, М. С.; Кайбышев, Р. О. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |