Геометрическое моделирование структуры наноматериалов для тестирования методов сегментации изображений сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / А. В. Смурыгин [и др. ] // Математическое моделирование. - 2011. - Т. 23, № 12. - С. 143-150 : 6 рис. - Библиогр.: с. 150 (13 назв. ) . - ISSN 0234-0879
Рубрики: Математика Вычислительная математика Кл.слова (ненормированные): модельные изображения -- алгоритмы сегментации -- наноматериалы -- сканирующая зондовая микроскопия Аннотация: Разработана методика формирования модельных изображений, которые используются для тестирования алгоритмов сементации изображений сканирующей зондовой микроскопии. Трехмерная геометрическая модель наноматериалов является комбинацией объектов априорно выбранных форм и размеров с заданной степенью перекрытия. Реализована возможность деформации опорной поверхности модели для имитации крупномасштабной неровности образца реального наноматериала. Такой подход обеспечивает визуальный контроль по растровому изображению модели и представляет параметры для сравнительного анализа эффективности различных алгоритмов сегментации: количество распознаваемых фрагментов объектов, площадь фона и площадь каждого фрагмента в масштабе изображения. Доп.точки доступа: Смурыгин, А. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск); Карбань, О. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск); Немцова, О. М. (Физико-технический институт УрО РАН); Хлопов, Д. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск); Журбин, И. В. (Физико-технический институт УрО РАН, г. Ижевск) Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |