Субструктура и оптические свойства тонких ориентированных пленок рутила [Текст] / В. М. Иевлев [и др. ] // Материаловедение. - 2011. - N 11. - С. 8-12.
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): спектры пропускания -- тонкие пленки -- оксидирование -- титан -- рутил -- фотолюминесценция -- термическое оксидирование -- импульсная фотонная обработка -- монокристаллические пленки -- многоориентационная хемоэпитаксия рутила Аннотация: Исследованы ориентация, субструктура и оптические свойства тонких пленок рутила, полученных термическим оксидированием и импульсной фотонной обработкой на воздухе монокристаллических пленок Ti. Установлены ориентационные соотношения на межфазной границе металл-оксид, характеризующие многоориентационную хемоэпитаксию рутила. Определена ширина запрещенной зоны. Установлен размерный эффект люминесценции, проявляющийся в многократном снижении интенсивности при изменении зеренной субструктуры от субмикрокристаллической до нанокристаллической. Доп.точки доступа: Иевлев, В. М.; Солнцев, К. А.; Солдатенко, С. А.; Леонова, Л. Ю.; Новиков, П. В.; Голосов, Е. В.; Синельников, А. А.; Возгорьков, А. М. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |