Применение EXAFS-спектроскопии с угловым разрешением для исследования слоев и интерфейсов в металлических многослойных наногетероструктурах [Текст] / Ю. А. Саламатов [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 8. - С. 1100-1102. . - Библиогр.: c. 1102 (2 назв. )
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): EXAFS-спектроскопия -- атомная структура -- концентрационные профили -- металлические пленки -- многослойные пленки -- модельные расчеты -- наногетероструктуры -- тонкие пленки Аннотация: Предложена новая методика, дающая возможность восстанавливать концентрационный профиль и локальное атомное строение на произвольной глубине в металлических многослойных пленках из данных по зависимости EXAFS-спектров от угла падения первичного пучка. Возможности методики демонстрируются при помощи модельных расчетов для трехслойной системы Cr/Fe/Cr. Получены первые экспериментальные результаты для тонких пленок Cr, нанесенных на сапфировую подложку. Доп.точки доступа: Саламатов, Ю. А.; Бабанов, Ю. А.; Мухамеджанов, Э. Х.; Устинов, В. В. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |