Батраков, А. А. Статистическое моделирование спектров упругоотраженных электронов [Текст] / А. А. Батраков, А. В. Лубенченко // Математическое моделирование. - 2011. - Т. 23, N 3. - С. 22-26. : 3 рис. - Библиогр.: с. 26 (7 назв. )
Рубрики: Математика Вычислительная математика Кл.слова (ненормированные): детектирование водорода -- моделирование Монте-Карло -- Монте-Карло моделирование -- спектроскопия упругоотраженных электронов -- упругое рассеяние Аннотация: Наиболее перспективный метод исследования поверхности конструкционных материалов является метод спектроскопии отраженных электронов (СОЭ). Метод СОЭ может быть реализован на стандартном аналитическом оборудовании, которое отличается малыми габаритами. Преимущество данного метода анализа в том, что он не оказывет разрушающего. действия. Доп.точки доступа: Лубченко, А. В. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |