Методика измерений формы поверхности вращения на интерференционном микроскопе "Talysurf CCI 2000" [Текст] / А. А. Ахсахалян [и др. ] // Известия РАН. Серия физическая. - 2011. - Т. 75, N 1. - С. 102-105. . - Библиогр.: c. 105 (3 назв. )
Рубрики: Машиностроение Соединения деталей машин Кл.слова (ненормированные): Talysurf CCI 2000 -- дифференциальные профилометры -- интерференционные микроскопы -- интерферометры белого света -- Киркпатрика-Байеза скрещенные системы -- методы измерения формы поверхности -- многослойные зеркала -- оптические стенды -- сканирующие микроскопы -- скрещенные системы Киркпатрика-Байеза -- форма эллипсоида вращения Аннотация: Представлена методика измерений формы поверхности эллипсоида вращения на сканирующем интерференционном микроскопе белого света "Talysurf CCI 2000". Доп.точки доступа: Ахсахалян, А. А.; Ахсахалян, А. Д.; Зорина, М. В.; Харитонов, А. И. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ч.з. (1) Свободны: ч.з. (1) |